詳細(xì)介紹
典型應(yīng)用場景
AMET-2200 電子內(nèi)窺鏡光學(xué)性能自動(dòng)測試系統(tǒng)專為各類電子內(nèi)窺鏡、攝像系統(tǒng)的綜合光學(xué)性能測試而設(shè)計(jì),兼具高精度、自動(dòng)化、智能化的特點(diǎn)。系統(tǒng)按預(yù)設(shè)流程自動(dòng)測量內(nèi)窺鏡照明系統(tǒng)與成像系統(tǒng)的視場和視向、像質(zhì)、光效等光學(xué)性能。適用于電子內(nèi)窺鏡、攝像系統(tǒng)的研發(fā)、質(zhì)檢和產(chǎn)線測量,憑借其快速智能高精度的優(yōu)異性能,尤其適用于各實(shí)驗(yàn)室、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)等測量場景。通過與人眼視覺相匹配的內(nèi)窺鏡像質(zhì)評價(jià)專用成像系統(tǒng)、無損圖像采集和人工智能識別算法,快速、高效、可重復(fù)的實(shí)現(xiàn)各項(xiàng)光學(xué)參數(shù)的測量,而不依賴于檢測人員的主觀判斷。
主要特點(diǎn)
功能全面,一機(jī)兩用
內(nèi)窺鏡自動(dòng)光學(xué)性能測試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)各類電子內(nèi)窺鏡、攝像系統(tǒng)等的測量要求,有別于常規(guī)同類設(shè)備,操作簡便,測試外形美觀。
智能化測試,測試效率高,復(fù)現(xiàn)性好。
采用遠(yuǎn)方專業(yè)光度測量技術(shù),實(shí)現(xiàn)高線性、高靈敏度的光度測量。適配常用視頻接口,并支持4K無損圖像采集,同時(shí)采用優(yōu)異的人工智能算法,避免人為主觀因素影響,具有高測量復(fù)現(xiàn)性。
測量結(jié)果高復(fù)現(xiàn)性、高精度、可溯源
高精度光度探頭配合0.1 mm精度位移軸,精準(zhǔn)定位并獲得內(nèi)窺鏡視場中心與視場帶邊緣照度情況。核心部件采用高精度亮度計(jì)和照度計(jì)測試,量值溯源至國家計(jì)量機(jī)構(gòu)。
精密的機(jī)械和優(yōu)異的光學(xué)設(shè)計(jì),讓裝夾及對準(zhǔn)更方便
夾具適配不同尺寸電子內(nèi)窺鏡與攝像系統(tǒng)、纖維鏡等的測量,并支持定制化夾具。 系統(tǒng)配置移動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)等多維運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu),方便對準(zhǔn)。 精密的機(jī)械對準(zhǔn)+機(jī)器視覺輔助對準(zhǔn)算法相結(jié)合,即可輕松對準(zhǔn)靶心。
擁有自主核心技術(shù),經(jīng)過數(shù)代迭代升級,系統(tǒng)成熟可靠,人性化程度高
內(nèi)窺鏡自動(dòng)測試系統(tǒng)運(yùn)用遠(yuǎn)方三十余年光電測量的技術(shù)優(yōu)勢和集成經(jīng)驗(yàn),在圖像識別領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn),經(jīng)過幾代迭代更新,測量的綜合性能更優(yōu),系統(tǒng)成熟可靠,已被業(yè)內(nèi)眾多科研質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、外資及國內(nèi)中大規(guī)模的內(nèi)窺鏡企業(yè)所廣泛采用。
可測量參數(shù)
電子內(nèi)窺鏡:視場角、照明鏡體光效、靜態(tài)圖像寬容度、亮度響應(yīng)特性、信噪比、空間頻率響應(yīng)。 攝像系統(tǒng):靜態(tài)圖像寬容度、亮度響應(yīng)特性、信噪比、空間頻率響應(yīng)。
主要技術(shù)指標(biāo)
| 型 號 | AMET-2200 |
| 精密對準(zhǔn) | 精密機(jī)械設(shè)計(jì)調(diào)整+機(jī)器視覺輔助對準(zhǔn) |
| 夾持裝置 | 配專用多維調(diào)節(jié)夾持裝置 |
| 圖像采集接口 | 適配電子內(nèi)窺鏡常見視頻信號輸出接口,4K級無損采集并保存圖像數(shù)據(jù) |
| 二維移動(dòng)精度 | 0.1 mm |
| 均勻亮度源范圍 | 0~5000 cd/m2,最小亮度步長0.1 cd/m2 |
| 可調(diào)灰階背景(B)亮度范圍 | 10~ 1000 cd/m2,亮度不均勻性:≤20% |
| 小灰階塊(A)區(qū)域亮度范圍 | 1~ 5000 cd/m2,亮度不均勻性:≤2% |
| 照度測量范圍及精度 | 0.1~200 klx,精度:一級 |
| 亮度測量范圍 | 0.1~ 1.0×10? cd/m2,精度:一級 |
| 測試標(biāo)靶 | 按標(biāo)準(zhǔn)要求配置視場角、正弦波星形測試 |
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