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詳細(xì)介紹
典型應(yīng)用場景
SICA-2000光譜圖像測色分析儀采用遠(yuǎn)方高光譜測色技術(shù)，采用CIE D/8測量幾何，可快速獲得混色、形狀不規(guī)則以及小尺寸等材料的光譜圖像，并對圖像各區(qū)域的顏色和光譜進(jìn)行分析，并可對“無法測量的材料"實(shí)現(xiàn)數(shù)字化高精度測量，非常適用于紡織品、紡織飾物（紐扣、按鈕、拉鏈等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行業(yè)。
主要特點(diǎn)
符合CIE標(biāo)準(zhǔn)D/8測量幾何要求，同時(shí)具備SCI和SCE測量條件。
采用高性能光源，長期穩(wěn)定性好，光源壽命更長。
多方位監(jiān)控以及補(bǔ)償設(shè)計(jì)，保證測試結(jié)果的重復(fù)性更高、穩(wěn)定性更好。
采用遠(yuǎn)方高光譜引擎，圖像分辨率高，空間測量分辨率更高。
的軟硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供了的光譜測試的準(zhǔn)確度以及解析力，保證測試的準(zhǔn)確性。
主要技術(shù)指標(biāo)
| 型 號 | SICA-2000 |
| 測量幾何 | d/8(漫射照明，8°方向接收) SCI(包含鏡面反射光)/SCE(不包含鏡面反射光)可選 |
| 波長范圍 | 400nm~700nm |
| 波長導(dǎo)出間隔 | 10nm |
| 反射率范圍 | 0-200% |
| 重復(fù)性 | 標(biāo)準(zhǔn)偏差ΔE*ab 0.03以內(nèi) |
| 器間差 | ΔE*ab<0.15(以主機(jī)測量BCRA Series l 12色板的平均值) |
| 接 口 | LAN/USB/WIFI/RS-232(預(yù)留) |
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