AutoSIR2可依據(jù)各種各樣國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件與自定條件開(kāi)展SIR，CAF測(cè)試。Gen3 systems維持與國(guó)內(nèi)各地訂立規(guī)范的組織懂得，包含IEC、ISO、IPC、BSI等緊密聯(lián)系協(xié)作，發(fā)展趨勢(shì)并訂立有關(guān)SIR測(cè)試協(xié)約，更廣泛應(yīng)用于制成品使用壽命靠譜度，原材料或焊錫特性科學(xué)研究。

經(jīng)過(guò)兩年多的緊張研究和開(kāi)發(fā)，我們很自豪地介紹用于測(cè)量表面絕緣電阻變化的新一代設(shè)備。

新的AutoSIR2 +™系統(tǒng)代表了一個(gè)戲劇性的改善現(xiàn)有的測(cè)試方案,爵士及其屏蔽精密電子產(chǎn)品允許*的電阻測(cè)量精度是由1014Ω。

一個(gè)AutoSIR2+底盤(pán)可以容納1到16個(gè)測(cè)量卡，*多可以監(jiān)控256個(gè)2點(diǎn)測(cè)試模式或78個(gè)5點(diǎn)測(cè)試模式，或32個(gè)9點(diǎn)測(cè)試模式，時(shí)間間隔從幾分鐘到幾天。每個(gè)通道電流是有限的(1Ω),鼓勵(lì)增長(zhǎng)樹(shù)突的失效分析。頻繁的監(jiān)測(cè)能力提供了一個(gè)完整的畫(huà)面，電化學(xué)反應(yīng)發(fā)生在一個(gè)電路組裝，并提供早期趨勢(shì)分析，使測(cè)試得以縮短，從而節(jié)省了大量的測(cè)試時(shí)間和**。

關(guān)鍵特性

所有256個(gè)通道的測(cè)量都可以在10秒內(nèi)完成

適用電壓:+1V至100V

測(cè)量范圍:106Ω1014Ω

測(cè)量方法:在所有選定的通道上連續(xù)測(cè)量

測(cè)量測(cè)試間隔:可選擇從*少1分鐘

能夠測(cè)試所有現(xiàn)有的測(cè)試規(guī)范- IPC - IEC - JNC和其他用戶規(guī)范

未來(lái)的防水設(shè)計(jì)

AutoSIR2+可提供64、128或256通道配置

連接時(shí)，系統(tǒng)運(yùn)行自我測(cè)試

適應(yīng)和靈活的軟件操作與Windows 7, 8和10