Czitek SurveyIR 紅外顯微光譜附件可簡化采集 FTIR 光譜所需的眾多微量取樣應用的用戶體驗。將 SurveyIR 附件裝在 Nicolet Summit FTIR 光譜儀的樣品倉中，以提高顯微光譜分析功能并實現(xiàn)*、便攜式優(yōu)質樣品數(shù)據和圖像生成解決方案。SurveyIR 附件的空間分辨率為 100 微米并具有三種采樣模式：透射、反射和 ATR。在所有采樣模式中，SurveyIR 附件均可利用 Summit FTIR DTGS 檢測器。

SurveyIR 附件利用大景深觀察光學元件，包括金剛石 ATR?？蛇x的金剛石和鍺 ATR 拆裝方便，適合多種樣品和分析類型。ATR 接觸報警板可通過相應的 eSpot™ 軟件和附件正面的 LED 指示燈向用戶提供可視化的 ATR 壓力反饋。

SurveyIR 附件的主要優(yōu)點及特點： 

• 便攜式樣品倉顯微光譜分析附件可用于 Nicolet Summit FTIR 光譜儀

• 三種采樣模式：透射、反射和 ATR 

• 三種照明模式：透射、反射和傾斜（暗場） 

• 瀏覽型金剛石 ATR 

• 由高分辨率、5mp CMOS 彩色攝像機生成的可視圖像，分辨率高達 2592 x 1944

• 1900 µm 大視野

• 通過快速連接 ?" 管接頭實現(xiàn)可吹掃設計 

• 附帶 eSpot 軟件，以便顯示、操作、采集、記錄和存儲圖像。

eSpot 軟件提供了選擇采樣和照明模式的接口。軟件操作簡單，簡化了不同光譜數(shù)據采集或照明模式間的切換，只需從屏幕頂部的下拉菜單中選擇感興趣模式即可。

應用

• 對纖維、油漆、聚合物、織物、藥物活性成分、賦形劑、麻醉藥品、爆炸物和礦物質進行 FTIR 顯微光譜分析

• Analytical Services

• 質量保證

• 科學教育

• 法醫(yī)學實驗室

• 藥物表征

• 纖維分析

• 污染物鑒定

• 表面缺陷表征