原位高低溫XRD反應(yīng)裝置（HLT-XRD-N）是一款專門為低溫條件下利用實驗室X射線衍射儀來探測樣品物相結(jié)構(gòu)變化而設(shè)計的原位裝置。該原位裝置可匹配商業(yè)衍射儀，可實現(xiàn)樣品在低溫下的物相反應(yīng)監(jiān)測。該裝置主要包含有主體原位池、溫控系統(tǒng)等多個部件及相關(guān)配件。采用液氮制冷對低溫樣品進(jìn)行制冷，通過熱傳導(dǎo)的制冷方式，確保樣品處于恒溫點，溫度范圍為-180℃-300°該原位裝置十分適用于不同材料在低溫下的物相結(jié)構(gòu)研究，是材料科學(xué)領(lǐng)域、能源化學(xué)領(lǐng)域等眾多研究領(lǐng)域的有力輔助手段之一。

主要特點：

1. 原位高低溫XRD 反應(yīng)裝置適用于低溫環(huán)境下粉末樣品的物相結(jié)構(gòu)追蹤、監(jiān)測；

2. 該原位裝置主要包括主體原位池（內(nèi)置制冷組件）、液氮制冷系統(tǒng)、溫控系統(tǒng)等多個部件及相關(guān)配件；

3. 該原位裝置可適配各品牌商業(yè)X射線衍射儀的光路系統(tǒng)，也可依據(jù)客戶現(xiàn)有光路進(jìn)行調(diào)整適配；

4. 樣品可為粉末樣品，直接放置在冷臺上；

5. X射線探測角度范圍：5<2θ<160°；

6. 該裝置采用液氮制冷對樣品進(jìn)行制冷，采用熱傳導(dǎo)的方式對樣品進(jìn)行加熱，保證樣品處的溫度均勻；

7. 溫度控制范圍：-180-300°；控制精度：±1℃，采用程序控制；

8. 樣品臺采用銅加工而成，溫度探測器為Pt100，置于冷臺邊；

裝置窗口標(biāo)配高分子球，能夠承受不高于1 個大氣壓的氣壓條件和低真空環(huán)境；也可選擇付費金屬鈹球，承受不同氣壓。