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參考價(jià)	面議

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)6kV可程序脈沖測(cè)試崩潰電壓分析高速測(cè)試單機(jī)*大10通道掃描測(cè)試(19305-10)可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口USB波形儲(chǔ)存&畫(huà)面擷取功能圖形化彩色顯示標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232接口

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特色

脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)
6kV可程序脈沖測(cè)試
崩潰電壓分析
高速測(cè)試
單機(jī)*大10通道掃描測(cè)試(19305-10)
可選配外接高壓掃描治具(40ch max.)
繁中/簡(jiǎn)中/英文操作接口
USB波形儲(chǔ)存&畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232接口

Chroma 19305系列為繞線組件脈沖測(cè)試器，系列機(jī)種包含(Chroma 19305)單通道及(Chroma 19305-10)10通道輸出測(cè)試，*高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率提高放電檢測(cè)能力，10uH感量以上產(chǎn)品測(cè)試，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)總量(Flutter)及波形二階微分?jǐn)?shù)(Laplacian)等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣**。

繞線組件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體絕緣**通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)**、加工制程**或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。

所謂的「繞線組件脈沖測(cè)試」基本上是以一「非破壞性」、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，再藉由分析/比對(duì)待測(cè)物良品與**品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線組件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線組件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺(jué)之部分放電等。

Chroma 19305系列為針對(duì)繞線組件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)，利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè)線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由諧振之衰減波形，透過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線圈自體之絕緣**及局部放電，提供變壓器、電感等繞線產(chǎn)品進(jìn)行層間短路測(cè)試，讓繞線組件生產(chǎn)廠商及用戶(hù)在質(zhì)量驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測(cè)試質(zhì)量，能更有效率為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。

Chroma 19305-10對(duì)于產(chǎn)在線的測(cè)試需求提供多通道掃描應(yīng)用(*大10通道)，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

四種波形判定模式