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FE-SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 詳細(xì)摘要： 特征●半漏磁物鏡（semi-in-lens）,適合觀(guān)察和分析納米材料
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2024-04-07 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言 -
鎢燈絲掃描電鏡 詳細(xì)摘要： 特征1、自動(dòng)連續(xù)偏壓技術(shù)和IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)2、優(yōu)異的觀(guān)察能力3、多探頭成像系統(tǒng)4、*的樣品適用性
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2024-04-07 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言 -
臺(tái)式掃描電鏡 詳細(xì)摘要： 特征1、重新優(yōu)化了光路
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2024-04-07 參考價(jià)： 面議 在線(xiàn)留言