儀器照片

儀器名稱

TriStar II 3020全自動比表面積和孔隙度分析儀

儀器型號

麥克TriStar II 3020

生產(chǎn)廠家

美國麥克默瑞提克儀器有限公司

儀器簡介

TriStar Ⅱ 3020可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，提供全吸附、脫附曲線、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點(diǎn)總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、t-plot數(shù)據(jù)處理。

技術(shù)參數(shù)

   1、比表面測量范圍為氮?dú)馕?/span>0.01m²/g至無上限，氪氣吸附0.0001m²/g至無上限；

   2、孔徑分析范圍：3.5埃~5000埃；

   3、真正的三站同時(shí)測量。每個(gè)分析站均有獨(dú)立的高精度壓力傳感器。

儀器特點(diǎn)

   1、單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積

  2、Langmuir比表面積

  3、BJH中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積

  4、平均孔尺寸和單點(diǎn)總孔體積

  5、中孔和大孔體積、面積對孔徑分布

   6、summary report總結(jié)報(bào)告

檢測案例

（介孔材料吸附等溫線）

檢測案例

（介孔樣品孔徑分布曲線）

送樣要求

  樣品務(wù)必干燥；寄樣質(zhì)量大于0.3g；對材料比表面積有大致了解