在實(shí)驗(yàn)室中研究顆粒粒徑和粒數(shù)

采用 FBRM 技術(shù) 的 ParticleTrack G400 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器中的探頭式儀器，以便在全工藝過程濃度下實(shí)時追蹤顆粒粒徑及粒數(shù)變化。 隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，持續(xù)監(jiān)測顆粒、顆粒結(jié)構(gòu)和液滴為科學(xué)家提供足夠證據(jù)以獲得具有所需屬性的一致顆粒。

顆粒粒徑與粒數(shù)直接影響多相工藝中的性能，包括結(jié)晶、乳化和絮凝。 通過實(shí)時監(jiān)測顆粒粒徑與粒數(shù)，科學(xué)家能夠使用基于證據(jù)的方法自信地了解、優(yōu)化和放大實(shí)驗(yàn)過程。

在為離線分析進(jìn)行采樣和制備時，顆?？赡馨l(fā)生變化。 通過追蹤過程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數(shù)的變化，科學(xué)家能夠安全且無延遲地了解工藝過程 – 甚至是在溫度與壓力條件下。

隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，通過連續(xù)監(jiān)測顆粒，能夠確定過程參數(shù)對顆粒粒徑和粒數(shù)的影響。 這種的信息可用于設(shè)計能夠持續(xù)提供具有優(yōu)化特性的顆粒的過程。

縱覽

實(shí)驗(yàn)室中 ParticleTrack G400 的常見應(yīng)用包括：

? 結(jié)晶工藝開發(fā)

? 表征乳化和液滴系統(tǒng)

? 優(yōu)化顆粒粒徑分布

ParticleTrack G400 的主要特征：

? 設(shè)計緊湊，具有便攜性，占用最小空間的實(shí)驗(yàn)室

? 探頭可互換，可用于范圍廣泛的實(shí)驗(yàn)室規(guī)模(10mL 至 2L)

? 與 OptiMax 和 EasyMax 合成工作站無縫集成，進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)設(shè)置

? iC FBRM 軟件，進(jìn)行快速、直觀的顆粒數(shù)據(jù)分析

ParticleTrack G400 比以前的梅特勒-托利多 Lasentec FBRM 技術(shù)(S400 和 D600)有了重大改進(jìn)。

? 實(shí)時研究顆粒粒徑與粒數(shù)

科學(xué)家將 ParticleTrack 探頭直接插入到過程流體中，以長時間連續(xù)監(jiān)測顆粒粒徑與粒數(shù)，而無需采樣。 這種的信息成為有效了解涉及晶體、顆粒和液滴的過程的基礎(chǔ)。

? 借助 ParticleTrack將過程與顆粒系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)

科學(xué)家可以定期確定過程參數(shù)如何影響顆粒系統(tǒng)。 可以確定過程參數(shù)對生長、團(tuán)聚、破損和形狀變化等機(jī)制的影響，從而可以使用基于證據(jù)的方法對過程進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。

? 創(chuàng)建符合目的的顆粒系統(tǒng)

科學(xué)家使用 ParticleTrack 來確定如何穩(wěn)定得到所需粒徑和粒數(shù)的顆粒產(chǎn)品。 在研發(fā)、中試到投入生產(chǎn)的過程中，通過選擇的過程參數(shù)，科學(xué)家可以以較低的總成本快速向市場提供高品質(zhì)的顆粒產(chǎn)品。

? 監(jiān)測并糾正過程偏差

ParticleTrack 用于對生產(chǎn)中的既定過程進(jìn)行監(jiān)測、故障排除和改進(jìn)。 可以安全地監(jiān)測難以采樣的復(fù)雜過程，確保一致地生產(chǎn)質(zhì)量盡可能的顆粒。

規(guī)格 - ParticleTrack G400