簡(jiǎn)單易用的拉曼顯微鏡

SENTERRA II定義了緊湊型拉曼顯微鏡光譜性能和用戶友好性的新標(biāo)準(zhǔn)。

SENTERRA II被設(shè)計(jì)為具有靈敏度、優(yōu)異的光譜和成像性能等特點(diǎn)，因此SENTERRA II是一個(gè)適合研究應(yīng)用的*平臺(tái)。由于其自動(dòng)化程度高、尺寸小巧、擁有高效的工作界面，SENTERRA II同時(shí)也是解決質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室實(shí)際問(wèn)題的理想工具。

其波數(shù)軸的穩(wěn)定性確保了每次測(cè)試結(jié)果的精確性和準(zhǔn)確性。SENTERRA II同時(shí)能滿足如下兩類(lèi)用戶的應(yīng)用要求：每天高工作量的工作;從事前沿科研的實(shí)驗(yàn)室工作。

SENTERRA II的亮點(diǎn)：

1. 研究級(jí)光譜性能

2. 具有向?qū)Чδ艿能浖妥詣?dòng)化的硬件確保工作流程直觀、方便

3. SureCAL^TM確保的波數(shù)精度和準(zhǔn)確

4. 簡(jiǎn)單直接的拉曼成像

5. 緊湊型設(shè)計(jì)，顯微鏡內(nèi)置光譜儀

6. 全光譜范圍，內(nèi)含所有光柵

7. 多激光激發(fā)，快速切換

8. 和FT-拉曼技術(shù)結(jié)合可以最小程度減少熒光影響

9. 根據(jù)USP 1120、PhEur 2.2.48、ASTM E1840和E2529-06標(biāo)準(zhǔn)的全自動(dòng)化儀器測(cè)試

10. 符合GMP/cGMP、GLP和CFRp11要求

11. 開(kāi)放架構(gòu)版本，具備更高橫向分辨率，適用于分析較大的樣本(譬如藝術(shù)品)

拉曼顯微技術(shù)處于新的性能水平

研究級(jí)光譜性能

SENTERRA II具備的檢測(cè)敏感度和高譜圖分辨率，同時(shí)不犧牲共聚焦能力。

大多數(shù)應(yīng)用只需要標(biāo)準(zhǔn)光柵。該儀器可在一次掃描可覆蓋整個(gè)拉曼光譜，分辨率達(dá)到4cm-1。對(duì)于諸如同位素分裂或多晶態(tài)等要求苛刻的研究，可通過(guò)點(diǎn)擊鼠標(biāo)輕松設(shè)置高分辨率光柵。

直觀方便的操作

對(duì)于常規(guī)用戶和專(zhuān)家而言，SENTERRA II都是一種操作使用非常方便和直觀的系統(tǒng)。它是一種軟硬件緊密結(jié)合的儀器。軟件可引導(dǎo)操作人員完成顯微拉曼分析的所有步驟，而所有相關(guān)硬件調(diào)整均可自動(dòng)完成。

的波數(shù)精度和準(zhǔn)確性

為取得精確結(jié)果，必須對(duì)波長(zhǎng)軸進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。布魯克特色的SureCALTM技術(shù)可確保在任何時(shí)間自動(dòng)性校準(zhǔn)波長(zhǎng)軸，無(wú)需用戶任何操作

保證可靠性

使用SENTERRA II，您可以放心的是，測(cè)試結(jié)果始終是可靠的。歸功于儀器全自動(dòng)驗(yàn)證程序，儀器自動(dòng)完成性能驗(yàn)證，同時(shí)不浪費(fèi)寶貴的分析時(shí)間。在實(shí)際分析過(guò)程中，波長(zhǎng)軸可性自動(dòng)校準(zhǔn)，從而保證光譜精度和準(zhǔn)確性。

方便的拉曼成像

SENTERRA II提供*的共聚焦拉曼成像和面掃描功能，無(wú)需進(jìn)行費(fèi)時(shí)費(fèi)力的參數(shù)調(diào)整即可直接使用。高效數(shù)據(jù)采集結(jié)合高精度面掃描臺(tái)可實(shí)現(xiàn)亞微米空間分辨率和快速拉曼成像。即便是高精度拉曼成像也可在短短數(shù)秒之內(nèi)測(cè)定。

克服熒光

選擇合適的激光激發(fā)，獲得有意義的拉曼譜圖，而不受熒光背景干擾，是非常重要的。SENTERRA II和FT-Raman技術(shù)結(jié)合，增加第四個(gè)近紅外激光1064nm，可以將不愿看到的熒光減小到。顯微FT-Raman也可以通過(guò)RamanScopeIII實(shí)現(xiàn)

Senterra II的應(yīng)用

SENTERRA II能夠測(cè)量拉曼成像，并將所獲取的空間分辨分子結(jié)構(gòu)信息與樣品的高質(zhì)量顯微圖像結(jié)合在一起。用戶無(wú)需制備和接觸樣品即可完成分析，并可獲取空間分辨率精細(xì)至一微米以下的樣品表面化學(xué)圖成像。此外，透光樣品的深度剖面分析功能支持對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性三維檢測(cè)。SENTERRA II應(yīng)用廣泛，適合用于有機(jī)和無(wú)機(jī)材料的檢測(cè)、辨別和識(shí)別。

聚合物

? 純聚合物和混合聚合物識(shí)別

? 多層膜分析

? 聚合物表征：結(jié)晶度、密度、形態(tài)

? 判定單體含量、充填劑和添加劑

? 失效分析：雜質(zhì)識(shí)別

涂層和表面

? 研究涂層和表面構(gòu)成和均勻性

藥物

? 區(qū)分同物質(zhì)的不同晶型

? 藥片中的API和賦形劑分布可視化

? 失效分析：顆粒物和雜質(zhì)鑒定

材料學(xué)

? 區(qū)分非晶硅和微晶硅

? 新型2D材料和碳納米管表征

法庭科學(xué)

? 鑒別取自現(xiàn)場(chǎng)的痕跡物證，譬如纖維、顆粒物、漆片等

? 藝術(shù)品真品鑒別

? 偽造文件、藥物和錢(qián)幣鑒別

? 違禁藥物分析

藝術(shù)和文化遺產(chǎn)

? 藝術(shù)作品材料識(shí)別

? 真假古董鑒別

? 藝術(shù)品保護(hù)、降質(zhì)和老化研究

生命科學(xué)

? 細(xì)胞和組織分子結(jié)構(gòu)研究