HS2048是一款微型光纖光譜儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計小巧，光譜范圍可配置；分辨率高，~ 0.07 nm；雜散光低，小于0.1%；溫度漂移小，波長溫漂~0.1pixel/℃。\n適用于激光測量、等離子體發(fā)射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業(yè)現(xiàn)場測量，是一款高性價的工業(yè)級光纖光譜儀。

HS2048是一款微型光纖光譜儀，設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計小巧，光譜范圍可配置；分辨率高，~ 0.07 nm；雜散光低，小于0.1%；溫度漂移小，波長溫漂~0.1pixel/℃。

適用于激光測量、等離子體發(fā)射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業(yè)現(xiàn)場測量，是一款高性價的工業(yè)級光纖光譜儀。

◆ 低雜散光：使用優(yōu)質(zhì)光學(xué)元器件，特殊消光設(shè)計和工藝，優(yōu)化光路設(shè)計，能夠有效減少雜散光干擾，雜散光可低至 0.1% 以下，顯著提高光譜純度和檢測精度；◆ 高分辨率：采用傳統(tǒng)長焦 CT 光路，通過精密光學(xué)設(shè)計和高性能光柵，顯著提高設(shè)備的光學(xué)分辨率,可達0.07 nm；◆波長溫漂~0.1pixel/℃；◆ 優(yōu)異的紫外響應(yīng)能力：配備紫外高靈敏檢測器，能夠提供低噪聲、高信噪比的準確光譜信號，適用于高精度分析；◆ 可適配如海帶銷多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≦7%；◆ CCD量化背景噪聲≦30RMS（最短積分時間）；◆ 配置USB、串口多種通訊接口，配置24PIN交互接口，配置專有DAC和ADC，可實現(xiàn)配套光源的使能、強度控制和功率反饋。

產(chǎn)品配置

* 光譜實際分辨率不高于標值的 120%

* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)

光譜儀測激光器線寬

激光器線寬是描述激光器性能的重要參數(shù)，是指激光器輸出的激光頻率的寬度。線寬越窄，激光的單色性越好，頻率穩(wěn)定性越高。我們可以使用光譜儀來測量激光器的線寬，適用于激光器生產(chǎn)廠家、科研場所等。

激光波長測量圖譜

半導(dǎo)體刻蝕終點判斷

光譜儀在半導(dǎo)體刻蝕工藝中用于終點判斷，通過實時監(jiān)測等離子體刻蝕過程中產(chǎn)生 的光譜信號變化，識別不同材料層的特征輻射峰。當光譜信號中的特征峰強度或位置發(fā)生預(yù)定變化時，系統(tǒng)判定刻蝕達到終點。這種方法具備高精度、實時性和非接觸性。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造中的多層結(jié)構(gòu)刻蝕控制。

再結(jié)晶鎢在氣體為 He、0.1 Pa、700W、250V 條件下鎢粒子的發(fā)射光譜

膜厚測量

基于光的干涉原理，當光照射到薄膜上時，部分光會在膜的上下界面發(fā)生反射和透射，形成干涉條紋。通過測量薄膜在不同波長下的反射或透射光譜，分析干涉條紋的頻率和幅度變化，可以計算出薄膜的厚度。

膜厚測量

火焰光譜檢測

在紫外 - 可見 - 近紅外內(nèi)實現(xiàn)光強探測，可獲取火焰在特定平面的相對光強和光譜分布。

火焰光譜檢測