詳細介紹
傳統(tǒng)測量樣品透/反射率的光纖探頭光斑直徑最小僅能達到1-2mm左右,光斑直徑限制了樣品的大小以及光譜空間分辨率,而若要獲得樣品更微小的尺度的光譜信息,通常的做法是與顯微系統(tǒng)連用。微區(qū)透反射光譜測量系統(tǒng)即是將光譜分析技術(shù)與顯微光路結(jié)合,最小采樣可在微米級尺度上采集樣品的光譜信息,廣泛應(yīng)用于物理、化學、生物等行業(yè)材料光譜性能研究。
本系統(tǒng)采用光纖共焦照明方式,與傳統(tǒng)的科勒式照明相比,共焦照明方式可獲得更小的采樣直徑,即具有更高的空間光譜分辨率。
◆ 模塊設(shè)計:通過在顯微鏡中加裝拓展模塊實現(xiàn)光譜測量,同時可在客戶現(xiàn)有顯微鏡基礎(chǔ)上定制相應(yīng)檢測模塊?!?共焦設(shè)計:光源光路與光譜儀接收光路共軸,獨特的共焦設(shè)計使得測量“所見即所得",并且系統(tǒng)的雜散光可以得到有效抑制?!?寬光譜檢測范圍:搭配如海光電的光纖光譜儀,可實現(xiàn)350~1700nm寬光譜測量。◆ 靈活選配與升級:該系統(tǒng)除可實現(xiàn)透反射測量外,同時可根據(jù)客戶需求在此基礎(chǔ)上添加特定測量模塊從而實現(xiàn)透反射+拉曼+熒光多光譜測量?!?高精度測量:自動移動平臺最小步進1μm,可實現(xiàn)微小區(qū)域光譜掃描測量。
* 光譜儀可根據(jù)客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數(shù)
材料科學
該系統(tǒng)通過高空間分辨率的光譜數(shù)據(jù)采集,可對微米甚至納米級別的樣品進行細致分析。能夠?qū)Σ牧系幕瘜W成分、分子結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)以及薄膜厚度等進行高精度的分析。
適用于研究和開發(fā)新型材料、薄膜技術(shù)、光電器件,以及鍍膜鏡片等各種光學元件及光學材料的透反射率的研究。


SPF705濾光片透射率光譜
Mapping掃描
微區(qū)透反射系統(tǒng)mapping掃描是一種高精度的分析技術(shù),通過顯微系統(tǒng)將光源聚焦到樣品的微小區(qū)域,然后收集該區(qū)域的透反射光譜信息。通過在樣品表面上逐點掃描,可以生成整個樣品區(qū)域的光譜圖,從而得到樣品的二維或三維光譜分布信息,能夠在微觀尺度上對樣品的透射和反射特性進行測量。這種技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學、化學分析、生物醫(yī)學、法醫(yī)鑒定和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。


最小采樣光斑
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