詳細(xì)介紹
產(chǎn)品描述
熒光光譜儀" alt="連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀" width="800" height="610" border="0" vspace="0" style="box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px; display: inline-block; vertical-align: middle; border: ; max-width: 99%; width: 800px; height: 610px;" />
Rigaku 獨(dú)特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線(xiàn)熒光 (WDXRF) 光譜儀為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)可接受直徑大為 400 毫米、厚度為 50 毫米和質(zhì)量為 30 千克的樣品,非常適合分析濺射靶材、磁盤(pán),或用于多層薄膜計(jì)量或大型樣品的元素分析。
優(yōu)點(diǎn)
帶有定制樣品適配器系統(tǒng)的 XRF,適應(yīng)特定樣品分析需求的多功能性,可使用可選適配器插件適應(yīng)各種樣品尺寸和形狀。憑借可變測(cè)量點(diǎn)(直徑 30 毫米至 0.5 毫米,具有 5 步自動(dòng)選擇)和具有多點(diǎn)測(cè)量的映射功能以檢查樣品均勻性。
具有可用相機(jī)和特殊照明的 XRF,可選的實(shí)時(shí)攝像頭允許在軟件中查看分析區(qū)域。
仍保留了傳統(tǒng)儀器的所有分析能力。
安全性
采用上照射設(shè)計(jì),樣品室可簡(jiǎn)單移出,再不用擔(dān)心污染光路,清理麻煩和增加清理時(shí)間等問(wèn)題。
大樣本分析:大 400 毫米(直徑),大 50 毫米(厚度),高達(dá) 30 千克(質(zhì)量)
樣品適配器系統(tǒng),適用于各種樣本量
測(cè)量點(diǎn):30 毫米至 0.5 毫米直徑,5步自動(dòng)選擇
映射能力,允許多點(diǎn)測(cè)量
樣品視圖相機(jī)(可選)
分析范圍:Be - U
元素范圍:ppm 至 %
厚度范圍:sub Å 至 mm
衍射干擾抑制(可選):單晶襯底的準(zhǔn)確結(jié)果
符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):SEMI、CE標(biāo)志
占地面積小,以型號(hào)的 50% 占地面積
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