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二極管陣列紫外分光光度計 詳細(xì)摘要： 簡要描述： 測量一個樣品，全譜掃描時間12ms3. 同一光學(xué)平臺，無需維護和校正4. 重現(xiàn)性，開放室樣品室，不受環(huán)境影響5. 可配大容量自動進(jìn)樣器6. 可升級為...
產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2026-04-27 參考價： 面議 在線留言
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深圳華普通用科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 簡要描述： 測量一個樣品，全譜掃描時間12ms3. 同一光學(xué)平臺，無需維護和校正4. 重現(xiàn)性，開放室樣品室，不受環(huán)境影響5. 可配大容量自動進(jìn)樣器6. 可升級為...
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