詳細(xì)介紹
儀器介紹:
1、平場消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng),同時(shí)在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)
2、防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。
3、提供穩(wěn)定可靠的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡便。
4、顯微鏡鏡體采用全新的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)勻稱,實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
5、工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作,提高了使用的舒適性。
6、廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù):
1、平場消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng),同時(shí)在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)
2、防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。
3、提供穩(wěn)定可靠的操作機(jī)構(gòu),使成像更清晰,操作更簡便。
4、顯微鏡鏡體采用全新的人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)勻稱,實(shí)現(xiàn)鏡體擴(kuò)展積木化。
5、工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作,提高了使用的舒適性。
6、廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程等學(xué)科領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù):
| 光學(xué)系統(tǒng) | 無限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) |
| 觀察筒 | 鉸鏈?zhǔn)诫p目,30°傾斜,360°旋轉(zhuǎn),瞳距調(diào)節(jié)范圍:54-75mm,雙邊±5屈光度可調(diào); 鉸鏈?zhǔn)饺?,固定式分光比,雙目:三目=80%:20% |
| 目鏡 | PL10X高眼點(diǎn)平場目鏡,線視場 22mm |
| 物鏡 | 長工作距平場消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X、100X |
| 轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器 |
| 調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 粗微調(diào)同軸,帶機(jī)械上限位和松緊調(diào)節(jié)裝置, 粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm |
| 載物臺(tái) | 雙層機(jī)械移動(dòng)平臺(tái),附設(shè)180X145mm平板平臺(tái), 移動(dòng)范圍:76mmX50mm |
| 照明系統(tǒng) | 5W LED燈源,光強(qiáng)連續(xù)可調(diào),帶可變孔徑光闌與視場光闌,視場光闌中心可調(diào) |
| 攝像裝置 | 0.5X C型攝像接口 |
| 其他可選功能 | 簡易偏光 5W LED 透射照明系統(tǒng) |
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