產品詳情：

臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。

我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察"為理念，開發(fā)出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應用。

產品特點：

觀察圖像3分鐘?？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報告。

|| 觀察與分析的靈活性

自動獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換！

可快速獲得元素分布圖*2

*1   TM4000PlusⅡ的功能。

*2   選配

|| 使用Camera Navi*的話，就是如此簡單

Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

*   選配：Camera Navi系統(tǒng)

|| 操作簡單且快捷

觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導出測試報告。

|| Report Creator可讓您輕松制作報告

只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告

|| 即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察。

“靜電減輕模式"可抑制靜電現(xiàn)象

對于容易產生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式"，在抑制靜電的狀態(tài)下進行觀察。

只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式"。 

|| 可在低真空的條件下進行多種觀察

對于容易產生靜電的粉末或含水等樣品，可結合其目的進行觀察。

|| 可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。

無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

不僅是觀察傳統(tǒng)的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品?？煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

|| 高感度低真空二次電子檢測器

采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。 

|| 可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。

憑借EDS分析（選配），可進行更高計數(shù)率解析。

|| 通過加速電壓20 kV，實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化 

|| Multi Zigzag（選配）

可實現(xiàn)在廣域范圍內進行SEM觀察。

搭配自動馬達臺，可實現(xiàn)低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。 

|| EM 樣品臺（選配）

|| 可輕松觀察 STEM 圖像

與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。

可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品. 

|| 產品規(guī)格：