傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的空間分辨率受限于光學(xué)衍射極限，分辨率為波長的一半λ/2。掃描近場光學(xué)顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限，實(shí)現(xiàn)了60-100nm的超高光學(xué)空間分辨率。近場光學(xué)技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域非常廣，無需特殊樣品制備。

WITec公司的 alpha300 S近場光學(xué)顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場探針，輕松實(shí)現(xiàn)超衍射極限的光學(xué)成像。在近場光學(xué)圖像采集的過程中，可同時獲得樣品的AFM表面形貌，實(shí)現(xiàn)近場光學(xué)信息與樣品形貌的相關(guān)分析。WITec近場光學(xué)系統(tǒng)采用成熟穩(wěn)定的AFM激光偏轉(zhuǎn)反饋系統(tǒng)同來控制探針與樣品之間的距離。

與熒光技術(shù)聯(lián)用，近場光學(xué)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)單分子檢測。

超高分辨顯微鏡

alpha300 S近場顯微鏡是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。 該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。

alpha300 S系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

SNOM近場模式采用特定的顯微物鏡，便于探針安裝與定位。alpha300 S顯微鏡不僅與所有AFM工作模式兼容，還可以配備透射、反射及熒光等標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)模式。

由于近場光學(xué)信號極其微弱，alpha300 S近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護(hù)。更重要的是，UHTS光譜儀可與alpha300 S系統(tǒng)兼容，實(shí)現(xiàn)近場光譜與成像測量。

WITec 的 SNOM 懸臂技術(shù)

[A] SNOM探針和樣品的光學(xué)圖像(俯視圖)

[B] 探針側(cè)視圖

[C] SNOM探針的SEM圖像

[D] SNOM探針的小孔SEM圖像

[E] 批量生產(chǎn)的SNOM探針

關(guān)鍵特性

· 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)

· 的SNOM探針技術(shù)

· 在空氣與液體中均可使用

· 包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式

· 非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備

· 可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

· 集成三種技術(shù)到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡、AFM 和SNOM