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詳細(xì)介紹
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分辨力。
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