Otsuka QE-2000是一套快速、準(zhǔn)確的量子效率測量系統(tǒng)，可以測量粉末、溶液和固體等材料的量子效率，基本消除紫外雜散光的影響，此外，采用半球集成探測器，可實現(xiàn)高靈敏度且消除再激發(fā)功能，從而獲得熒光粉的真正特性?？梢詼y量的技術(shù)參數(shù)包括：量子效率（產(chǎn)率），激發(fā)波長依賴性，發(fā)射光譜PL激發(fā)光譜和EEM（激勵排放矩陣）等。

量子效率測量系統(tǒng)QE2000-量子效率測試儀 產(chǎn)品描述：

量子效率測量系統(tǒng)QE2000-量子效率測試儀 是一套快速、準(zhǔn)確的量子效率測量系統(tǒng)，可以測量粉末、溶液和固體等材料的量子效率，基本消除紫外雜散光的影響，此外，采用半球集成探測器，可實現(xiàn)高靈敏度且消除再激發(fā)功能，從而獲得熒光粉的真正特性。可以測量的技術(shù)參數(shù)包括：量子效率（產(chǎn)率），激發(fā)波長依賴性，發(fā)射光譜PL激發(fā)光譜和EEM（激勵排放矩陣）等。

工作原理：

QE-2000配備了集成半球的系統(tǒng)，具有各種功能。優(yōu)化的幾何形狀可將非發(fā)射性零件定位在外部，從而使自吸收效應(yīng)最小化，鏡面照度約比現(xiàn)有的積分（全）球面高出兩倍，還可輕松進行細(xì)胞裝卸，以減少損壞球體內(nèi)部的風(fēng)險。QE-2000具有“真性"的再勵消除功能。在包含再激勵發(fā)射的條件下，不能獲得真實的特性，因為其中包含了設(shè)備特性。利用積分球半球的優(yōu)勢，QE-2000可以使用消除再激勵功能，熒光粉樣品反射的激發(fā)光將在球體中進行漫反射，并且反射的激發(fā)光將再次采樣，從而進行精確測量。與現(xiàn)有發(fā)出大量雜散光的探測器不同，Otsuka新發(fā)明了一種雜散光消除解決方案，用于QE-2000的陣列光譜儀的雜散光是現(xiàn)有模型的1/5（橙色光譜），可極大地減少紫外線區(qū)域的雜散光。

升級選項：

• 光譜儀規(guī)格可選（3683C/311C/2580C/3095C）
• 自動取樣器
• 樣品固定治具（粉劑測量用/薄膜測量用）
• 分離型量子效率測試系統(tǒng)QE-2100

技術(shù)參數(shù)：

測量參數(shù)

• 光譜范圍：360~830nm/360~1100nm/250~800nm/300~950nm
• 像素波長寬度：1.0nm/0.5nm
• 光接收像素通道數(shù)：512ch/1024ch
• 傳感器類型：電子冷卻式CCD圖形傳感器
• 數(shù)電分辨率：16 bit ADC
• 分光器光學(xué)配置：背底（flatfield）型 F=3, f=85.8mm

激發(fā)光源

• 光源：150W Xe燈
• 激發(fā)波長：250~800nm
• 帶寬：FWHM 5nm/Slit 0.6nm
• 樣品抗光降解：自動關(guān)閉裝置
• 激發(fā)波長控制：自動控制

積分球

• 材質(zhì)：Spectralon（美國Labsphere）
• 尺寸：150mm半球（HalfMoon）

樣品固定治具

• 粉劑測量固定治具：SUS304制，無石英蓋
• 溶液測量固定治具（常溫）：石英制溶液容器（開放型）

功耗

• 電源電壓：AC 100~120V/AC 200~230V

軟件

• 量子效率（量子產(chǎn)額）測量
• 量子效率（量子產(chǎn)額）的激發(fā)波長依賴特性
• 反射光譜測量
• PL激發(fā)光譜
• EEM（Excitation Emission Matrix）顯示
• 二次激發(fā)校正
• 發(fā)光光譜測量
• 透過/吸收光譜測量
• 顏色演算（色度、色溫、顯色指數(shù)等）

測量流程：