LS 13 320 XR 采用*的 PIDS 技術(shù)，為您提供的粒度分布數(shù)據(jù)，讓您能夠進(jìn)行高分辨率的測量并擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、精準(zhǔn)的結(jié)果，并幫助您簡化工作流程從而達(dá)到效率。一些重大改進(jìn)可讓您更容易察覺到細(xì)微差異，而正是這些細(xì)微的差異才會(huì)對您的粒度分析數(shù)據(jù)產(chǎn)生重大影響。

直接測量范圍在 10 nm – 3,500 µm 之間

自動(dòng)突出顯示合格/不合格結(jié)果從而達(dá)到更快速的質(zhì)量控制

增強(qiáng)版軟件簡化了標(biāo)準(zhǔn)測量方法的創(chuàng)建

全新 控制標(biāo)準(zhǔn)充分驗(yàn)證儀器/模塊的性能

功能

發(fā)現(xiàn)細(xì)微差異

擴(kuò)展測量范圍：10 nm – 3,500 µm

激光衍射加上*的偏振光強(qiáng)度差散射 (PIDS) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高分辨率的測量并可報(bào)告最小為 10 nm 顆粒的真實(shí)數(shù)據(jù)

可在單個(gè)樣品中提供針對多種粒度的準(zhǔn)確、可靠的檢測

易于使用的軟件

ADAPT 軟件可自動(dòng)進(jìn)行合格/不合格檢查

只需 3 步或更少，預(yù)配置方法即可呈現(xiàn)結(jié)果

簡化專家及新手的分析儀操作流程

一步覆蓋歷史數(shù)據(jù)

直觀的用戶診斷可在取樣過程中時(shí)刻對您進(jìn)行提醒

簡化標(biāo)準(zhǔn)測量的方法創(chuàng)建流程

ADAPT 軟件符合《美國聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

可自定義的安全系統(tǒng)滿足多元化需求

可選擇 4 種不同的安全級(jí)別

高級(jí)別的安全配置符合《美國聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

PIDS 技術(shù)可直接檢測大小為 10 nm 的顆粒

用3 種波長的光（450、600 及 900 nm）通過垂直和水平偏振光照射樣品

分析儀從多角度測量來自樣品的散射光

每種波長的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數(shù)據(jù)