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詳細(xì)介紹
JJF1933-2021 光學(xué)軸類測量儀校準(zhǔn)規(guī)范
校準(zhǔn)裝置：
1.標(biāo)準(zhǔn)芯軸AUBAT-XZ300S
校準(zhǔn)：上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度；垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度。
2.標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)AUBAT-2510ZG
校準(zhǔn)：軸徑測量的示值誤差；軸徑測量的重復(fù)性。
3.標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)AUBAT-2570CG
校準(zhǔn)：軸長測量的示值誤差；軸長測量的重復(fù)性。
JJF1933-2021光學(xué)軸類測量儀校準(zhǔn)規(guī)范適用于軸徑測量上限至150 mm、軸長測量上限至1000 mm 的光學(xué)軸類測量儀的校準(zhǔn)。光學(xué)軸類測量儀是采用CCD和光柵測量系統(tǒng)進(jìn)行軸徑和軸長測量的儀器。一般包括回轉(zhuǎn)主軸（C軸）和垂直軸（Z軸)，主要由機(jī)械主體、照明系統(tǒng)、CCD測量系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。常見光學(xué)軸類測量儀結(jié)構(gòu)及測量原理。工作時(shí)，測量工件夾持在兩**之間，CCD測量系統(tǒng)和照明光源通過測量滑架帶動(dòng)，沿Z軸方向移動(dòng)至測量位置，測量圖像通過CCD采集，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對CCD采集的圖像和光柵移動(dòng)距離進(jìn)行處理，得到測量工件的軸徑和軸長。
計(jì)量特性
1回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng)
回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng)要求可參照表1。
2 上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度
上**軸線對回轉(zhuǎn)主軸的同軸度要求可參照表 。
3垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度
垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度要求可參照表。
4軸徑測量的示值誤差
軸徑測量的*大允許誤差要求可參照表。
5軸長測量的示值誤差
軸長測量的*大允許誤差要求可參照表 。
6軸徑測量的重復(fù)性
軸徑測量的重復(fù)性要求可參照表。
7軸長測量的重復(fù)性
軸長測量的重復(fù)性要求可參照表 。
序號 計(jì)量特性 推薦要求
1 回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng) 一般不大于2μm
2 上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度 一般不大于2μm/200 mm
3 垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度 一般不大于4μm/200 mm
4 軸徑測量的示值誤差 *大允許誤差:士 （3μm+1.0×10-5d)
5 軸長測量的示值誤差 *大允許誤差:士(6μm+1.5×10-5l)
6 軸徑測量的重復(fù)性 一般不大于0.5μm
軸長測量的重復(fù)性 一般不大于1μm
檢定方法：
1.上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度
上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度用測微計(jì)和標(biāo)準(zhǔn)芯軸進(jìn)行測量。
當(dāng)儀器的軸長測量上限小于或等于 200 mm時(shí)，用一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸，標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度不小于儀器軸長測量上限的70%。
當(dāng)儀器的軸長測量上限大于200 mm時(shí)，用兩根不同長度的標(biāo)準(zhǔn)芯軸，其中一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度為200mm，且至少有一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度不小于儀器軸長測量上限的70%。將標(biāo)準(zhǔn)芯軸安裝在被校光學(xué)軸類測量儀的兩**之間，把裝有測微計(jì)的磁性表座安裝在回轉(zhuǎn)工作臺上隨主軸一起轉(zhuǎn)動(dòng)，使測頭與標(biāo)準(zhǔn)芯軸上端外圓面垂直接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)回轉(zhuǎn)主軸兩周，測微計(jì)的*大示值與*小示值之差即為上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度。
2.垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度
垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度用測微計(jì)和標(biāo)準(zhǔn)芯軸進(jìn)行測量.
將標(biāo)準(zhǔn)芯軸安裝在被校光學(xué)軸類測量儀的兩**之間，把測微計(jì)牢固安裝在測量滑架上，使測頭沿光軸方向垂直接觸標(biāo)準(zhǔn)芯軸的母線，測量滑架沿垂直導(dǎo)軌(Z軸)移動(dòng)，移動(dòng)距離應(yīng)大于儀器軸長測量上限的70%，測微計(jì)的*大示值與*小示值之差即為垂直導(dǎo)軌與兩**連線在該方向的平行度。將測微計(jì)位置相對標(biāo)準(zhǔn)芯軸轉(zhuǎn)90°，用同樣的方法，測量垂直導(dǎo)軌與兩**連線在該方向的平行度。
3.軸徑測量的示值誤差
軸徑測量的示值誤差用標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)可以只有1個(gè)直徑尺寸，也可以同時(shí)具有多個(gè)直徑尺寸(標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)或階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
在儀器軸徑測量范圍內(nèi)大致均勻分布5個(gè)測量點(diǎn)，選取相應(yīng)直徑的標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)依次進(jìn)行測量。在儀器上讀取標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)規(guī)定方向上的中截面直徑，重復(fù)測量3次，取3次結(jié)果的平均值作為儀器在該點(diǎn)的直徑測得值，該值與標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)的直徑實(shí)際值之差即為該點(diǎn)軸徑測量的示值誤差。各點(diǎn)軸徑測量的示值誤差△d;由公式計(jì)算:△d=di-dis 式中:di一光學(xué)軸類測量儀在第i點(diǎn)的直徑測得值;dis'第i個(gè)標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)的直徑實(shí)際值。
4.軸長測量的示值誤差
軸長測量的示值誤差用標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)可以只有1個(gè)長度尺寸，也可以同時(shí)具有多個(gè)長度尺寸(標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)或階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
在儀器軸長測量范圍內(nèi)大致均勻分布5個(gè)測量點(diǎn)，選取相應(yīng)長度的標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)依次進(jìn)行測量。在儀器上讀取標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)在軸線方向上兩端面之間的距離，重復(fù)測量3次，取3次結(jié)果的平均值作為儀器在該點(diǎn)的長度測得值，該值與標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)的長度實(shí)際值之差即為該點(diǎn)軸長測量的示值誤差。各點(diǎn)軸長測量的示值誤差△l;由公式計(jì)算:△li=Li-Lis 式中:Li;一光學(xué)軸類測量儀在第i點(diǎn)的長度測得值;Lis<第i個(gè)標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)的長度實(shí)際值。階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)和階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)也可以作為一體結(jié)構(gòu)(階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
校準(zhǔn)裝置：
1.標(biāo)準(zhǔn)芯軸AUBAT-XZ300S
校準(zhǔn)：上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度；垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度。
2.標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)AUBAT-2510ZG
校準(zhǔn)：軸徑測量的示值誤差；軸徑測量的重復(fù)性。
3.標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)AUBAT-2570CG
校準(zhǔn)：軸長測量的示值誤差；軸長測量的重復(fù)性。
JJF1933-2021光學(xué)軸類測量儀校準(zhǔn)規(guī)范適用于軸徑測量上限至150 mm、軸長測量上限至1000 mm 的光學(xué)軸類測量儀的校準(zhǔn)。光學(xué)軸類測量儀是采用CCD和光柵測量系統(tǒng)進(jìn)行軸徑和軸長測量的儀器。一般包括回轉(zhuǎn)主軸（C軸）和垂直軸（Z軸)，主要由機(jī)械主體、照明系統(tǒng)、CCD測量系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。常見光學(xué)軸類測量儀結(jié)構(gòu)及測量原理。工作時(shí)，測量工件夾持在兩**之間，CCD測量系統(tǒng)和照明光源通過測量滑架帶動(dòng)，沿Z軸方向移動(dòng)至測量位置，測量圖像通過CCD采集，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對CCD采集的圖像和光柵移動(dòng)距離進(jìn)行處理，得到測量工件的軸徑和軸長。
計(jì)量特性
1回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng)
回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng)要求可參照表1。
2 上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度
上**軸線對回轉(zhuǎn)主軸的同軸度要求可參照表 。
3垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度
垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度要求可參照表。
4軸徑測量的示值誤差
軸徑測量的*大允許誤差要求可參照表。
5軸長測量的示值誤差
軸長測量的*大允許誤差要求可參照表 。
6軸徑測量的重復(fù)性
軸徑測量的重復(fù)性要求可參照表。
7軸長測量的重復(fù)性
軸長測量的重復(fù)性要求可參照表 。
序號 計(jì)量特性 推薦要求
1 回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng) 一般不大于2μm
2 上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度 一般不大于2μm/200 mm
3 垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度 一般不大于4μm/200 mm
4 軸徑測量的示值誤差 *大允許誤差:士 （3μm+1.0×10-5d)
5 軸長測量的示值誤差 *大允許誤差:士(6μm+1.5×10-5l)
6 軸徑測量的重復(fù)性 一般不大于0.5μm
軸長測量的重復(fù)性 一般不大于1μm
| 序號 | 計(jì)量特性 | 推薦要求 |
| 1 | 回轉(zhuǎn)主軸**的斜向圓跳動(dòng) | 一般不大于2μm |
| 2 | 上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度 | 一般不大于2μm/200 mm |
| 3 | 垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度 | 一般不大于4μm/200 mm |
| 4 | 軸徑測量的示值誤差 | *大允許誤差:士 （3μm+1.0×10-5d) |
| 5 | 軸長測量的示值誤差 | *大允許誤差:士(6μm+1.5×10-5l) |
| 6 | 軸徑測量的重復(fù)性 | 一般不大于0.5μm |
|
| 軸長測量的重復(fù)性 | 一般不大于1μm |
檢定方法：
1.上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度
上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度用測微計(jì)和標(biāo)準(zhǔn)芯軸進(jìn)行測量。
當(dāng)儀器的軸長測量上限小于或等于 200 mm時(shí)，用一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸，標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度不小于儀器軸長測量上限的70%。
當(dāng)儀器的軸長測量上限大于200 mm時(shí)，用兩根不同長度的標(biāo)準(zhǔn)芯軸，其中一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度為200mm，且至少有一根標(biāo)準(zhǔn)芯軸的長度不小于儀器軸長測量上限的70%。將標(biāo)準(zhǔn)芯軸安裝在被校光學(xué)軸類測量儀的兩**之間，把裝有測微計(jì)的磁性表座安裝在回轉(zhuǎn)工作臺上隨主軸一起轉(zhuǎn)動(dòng)，使測頭與標(biāo)準(zhǔn)芯軸上端外圓面垂直接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)回轉(zhuǎn)主軸兩周，測微計(jì)的*大示值與*小示值之差即為上**軸線與回轉(zhuǎn)主軸的同軸度。
2.垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度
垂直導(dǎo)軌移動(dòng)與兩**連線之間的平行度用測微計(jì)和標(biāo)準(zhǔn)芯軸進(jìn)行測量.
將標(biāo)準(zhǔn)芯軸安裝在被校光學(xué)軸類測量儀的兩**之間，把測微計(jì)牢固安裝在測量滑架上，使測頭沿光軸方向垂直接觸標(biāo)準(zhǔn)芯軸的母線，測量滑架沿垂直導(dǎo)軌(Z軸)移動(dòng)，移動(dòng)距離應(yīng)大于儀器軸長測量上限的70%，測微計(jì)的*大示值與*小示值之差即為垂直導(dǎo)軌與兩**連線在該方向的平行度。將測微計(jì)位置相對標(biāo)準(zhǔn)芯軸轉(zhuǎn)90°，用同樣的方法，測量垂直導(dǎo)軌與兩**連線在該方向的平行度。
3.軸徑測量的示值誤差
軸徑測量的示值誤差用標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)可以只有1個(gè)直徑尺寸，也可以同時(shí)具有多個(gè)直徑尺寸(標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)或階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
在儀器軸徑測量范圍內(nèi)大致均勻分布5個(gè)測量點(diǎn)，選取相應(yīng)直徑的標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)依次進(jìn)行測量。在儀器上讀取標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)規(guī)定方向上的中截面直徑，重復(fù)測量3次，取3次結(jié)果的平均值作為儀器在該點(diǎn)的直徑測得值，該值與標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)的直徑實(shí)際值之差即為該點(diǎn)軸徑測量的示值誤差。各點(diǎn)軸徑測量的示值誤差△d;由公式計(jì)算:△d=di-dis 式中:di一光學(xué)軸類測量儀在第i點(diǎn)的直徑測得值;dis'第i個(gè)標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)的直徑實(shí)際值。
4.軸長測量的示值誤差
軸長測量的示值誤差用標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)可以只有1個(gè)長度尺寸，也可以同時(shí)具有多個(gè)長度尺寸(標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)或階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
在儀器軸長測量范圍內(nèi)大致均勻分布5個(gè)測量點(diǎn)，選取相應(yīng)長度的標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)依次進(jìn)行測量。在儀器上讀取標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)在軸線方向上兩端面之間的距離，重復(fù)測量3次，取3次結(jié)果的平均值作為儀器在該點(diǎn)的長度測得值，該值與標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)的長度實(shí)際值之差即為該點(diǎn)軸長測量的示值誤差。各點(diǎn)軸長測量的示值誤差△l;由公式計(jì)算:△li=Li-Lis 式中:Li;一光學(xué)軸類測量儀在第i點(diǎn)的長度測得值;Lis<第i個(gè)標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)的長度實(shí)際值。階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸徑規(guī)和階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸長規(guī)也可以作為一體結(jié)構(gòu)(階梯型標(biāo)準(zhǔn)軸規(guī))。
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