詳細介紹
測量原理:
導(dǎo)波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件(鋼纜或鋼棒)傳播,遇到被測介質(zhì),由于介電常數(shù)突變,引起反射,一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比。
特 點:
由于采用了*的微處理器和的 Echo Discovery 回波處理技術(shù),導(dǎo)波雷達物位計可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。
多種過程連接方式及探測組件的型式,使得 50X 系列導(dǎo)波雷達物位計適用于各種復(fù)雜工況及應(yīng)用場合。如:高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)等。
采用脈沖工作方式,導(dǎo)波雷達物位計發(fā)射功率極低,可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi),對人體及環(huán)境均無傷害。
說 明:
導(dǎo)波雷達是基于時間行程原理的測量儀表,雷達波以光速運行,運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播,當(dāng)脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內(nèi)的接收器接收,并將距離信號轉(zhuǎn)化為物位信號。
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導(dǎo)至儀表電子線路部分,微處理器對此信號進行處理,識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成,距離物料表面的距離 D 與脈沖的時間行程 T 成正比:
D=C×T/2
其中 C 為光速
因空罐的距離 E 已知,則物位 L 為:
L=E-D
通過輸入空罐高度 E(=零點),滿罐 高度 F(=滿量程)及一些應(yīng)用參數(shù)來 設(shè)定,應(yīng)用參數(shù)將自動使儀表適應(yīng)測 量環(huán)境,對應(yīng)于 4-20mA 輸出。
測量范圍:
說明:
H----測量范圍
L----空罐距離
B----頂部盲區(qū)
E----探頭到罐壁的最小距離
頂部盲區(qū)是指物料料面與測量參考點之間的最小距離。
底部盲區(qū)是指纜繩部附近無法精確測量的一段距離。
頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。
注意:
只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū) 之間時,才能保證罐內(nèi)物位的可靠測量。
儀表介紹
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