詳細介紹
儀器用途:
倒置型 LWD200-4XI 金相顯微鏡適用于金相學、冶金學專業(yè)實驗室的研究。并廣泛應(yīng)用于集成電路IC行業(yè)、電子半導體業(yè)。也可用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu),可廣泛地應(yīng)用在工廠或?qū)嶒炇疫M行鑄件質(zhì)量的鑒定,原材料的檢驗或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嗟难芯糠治龅裙ぷ鳌1緝x器可配用攝影裝置進行顯微攝影。
主要技術(shù)參數(shù):
1.單目鏡筒:傾斜60 °,瞳距55mm-75mm 視度±5°
2.平場目鏡:10X/18mm、12.5X/15mm ,
帶0.1mm刻度十字分劃板目鏡WF10X
3.消色差物鏡:4X、10X、、100X(S、O)
金相平場消色差物鏡:40X(S)
4.總放大倍數(shù):40X-1250X
5.載物臺:尺寸200mm*180mm
帶兩塊載物盤Ø10和Ø20mm,
移動范圍 70*50mm
6.調(diào) 焦 :粗微動同軸 升降范圍25mm
微動格值0.002mm,手輪松緊可調(diào)節(jié)
7.聚焦鏡:柯勒照明 ,濾色片(帶藍、綠、黃三塊濾色片)
8.光 源:可調(diào)鹵素燈 6V20W
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