Leica DM 4M 正置金相顯微鏡 2018/06/07 Leica DM 4M 正置金相顯微鏡，研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元件, 粉塵顆粒等樣品的觀察分析·模塊化設(shè)計，可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置·復消色差光路，整體光路支持25 mm視野直徑·6孔位的物鏡......

Leica DM 4M 正置金相顯微鏡，研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元件, 粉塵顆粒等樣品的觀察分析·模塊化設(shè)計，可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置·復消色差光路，整體光路支持25 mm視野直徑·6孔位的物鏡轉(zhuǎn)盤，配接32mm直徑工業(yè)物鏡。

　　·觀察方式可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、干涉

　　·高亮度超長壽命LED的透、反射照明電源，智能光強變化的控制照明方式，

　　·能自動記憶在不同物鏡下和不同觀察方式下光強、光闌大小及聚光鏡的組合，自動恢復到位，操作簡單快速

　　·機座帶液晶顯示屏顯示顯微鏡各部件工作狀態(tài)、參數(shù)

　　·光強、光闌、觀察方式調(diào)節(jié)和聚光鏡調(diào)節(jié)除可由按鍵控制外，還可由計算機控制操作

　　·可自動在不同倍數(shù)物鏡下拍的照片中加相應倍數(shù)標尺

　　·具有色溫恒定系統(tǒng)，提高工作效率

　　·可配接攝像頭，數(shù)碼相機進行圖像采集、分析、測量。

　　·可配接熒光觀察、高溫熱臺、陰極發(fā)光儀、光度計

　　·可配接4x4, 6x6大樣品臺，觀察硅片等大尺寸樣品

　　·可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物和顆粒粒度、清潔度分析