日本電子X射線能譜儀，具備大的可調(diào)分析范圍。單色化X射線源可用于高空間分辨率的化學(xué)態(tài)分析。采用全新設(shè)計(jì)的用戶界面，進(jìn)一步提升了可操作性，外觀設(shè)計(jì)現(xiàn)代，時(shí)尚。采用了Ribbon圖形用戶界面，在用戶友好的環(huán)境中，所有的操作可以只用鼠標(biāo)就能完成。 此外，利用日本電子的自動(dòng)定性分析功能，能對(duì)多個(gè)采集點(diǎn)依次進(jìn)行定性，定量分析及化學(xué)狀態(tài)分析。支持如角分辨XPS和全反射XPS技術(shù)，并且能對(duì)1納米深度的表層進(jìn)行超高靈敏度的分析（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法為6nm以上）。