可程式恒溫恒濕試驗箱

一、設(shè)備用途：

可程式恒溫恒濕試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境，并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對試驗箱的要求，主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗;特別適用于進行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗。

二、特點

可程式恒溫恒濕試驗箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術(shù)進行設(shè)計和制造，產(chǎn)品達(dá)到水平。采用能量調(diào)節(jié)技術(shù)、節(jié)能設(shè)計、密封性好、高強度、易清洗，符合國際審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;具有操作簡便、控制系統(tǒng)自動化程度高、系統(tǒng)運行穩(wěn)定、運行時間長等優(yōu)點。

三、主要型號尺寸及技術(shù)參數(shù)：

四、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4－93試驗D《交變濕熱試驗方法》