HMK-CD5寬量程激光粒度儀

2013-03-18  |  分類: 未分類

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產(chǎn)品簡介
HMK-CD5型激光粒度儀是丹東匯美科公司推出的的新一代粒度儀，儀器參照ISO13320、ISO13321 國際標準，利用光子相關(guān)光譜法、全量程Mie 散射2種原理，推算測量顆粒粒度分布?？煞謩e同時采用兩種方式測試，達到測量精度。主要針對粉體顆粒進行粒度分析，特點是粒度分析動態(tài)范圍寬，重復性好。

應用領(lǐng)域
化工材料、電子材料、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、磨料、醫(yī)藥、涂料、水泥、食品、農(nóng)藥、碳酸鈣、、高嶺土、金剛石、鈦白粉、氧化鋁、稀土、催化劑、硅灰石、電氣石、云母、重晶石、鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉、發(fā)泡劑、石墨、顏料等各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測試。

產(chǎn)品特點
儀器集光學、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動清洗一體化，電腦控制下自動對中校零。樣品在管道內(nèi)流動的時間短，避免了樣品分散后的分層和重新團聚，重復性、穩(wěn)定性達到國外同類儀器測量水平。
采用光子相關(guān)光譜法、全量程Mie 散射2種原理，既可測試納米粉體，又可測試微米類粉體。
粒度分析動態(tài)范圍寬，重復性好，操作簡單方便。
采用波長0.6328μm雙半導體激光器光源，使用壽命長。

技術(shù)參數(shù)
測試范圍：0.001μm～2000μm

測試1nm～10000nm，采用光子相關(guān)光譜法；
測試0.02μm～2000μm，采用全量程Mie 散射；
測試精度：微粉級D50測試重復性誤差≤±1％ （國家標樣）

信號光源：波長0.6328μm雙半導體激光器光源，使用壽命長。
工作電源：AC220V ±10％　50Hz 功率：300W
環(huán)境要求：使用環(huán)境應清潔，溫度：0-40℃
外形尺寸：880×380×520(mm) 儀器重量：90kg
測試軟件：在Windows XP系統(tǒng)下運行，菜單提示完整，結(jié)果顯示粒度分布表格和曲線圖。軟件有中、英文本格式任選擇。
結(jié)果輸出：結(jié)果顯示粒度分布表格和曲線圖。并有D10、D50、D90、D97、平均粒徑和比表面積等數(shù)據(jù)及粒徑分布曲線（參見測試報告）。