3757 型 納米增強儀

粒徑范圍

最小可檢測

粒子 (D50): 1.4 nm ( 電遷移率直徑，幾何直徑 1.1nm)，用氯化鈉粒子驗證

流量

氣溶膠流速:2.5 L/min

氣溶膠出口流速 :1.0 L/min

輸送流量 :1.5 L/min

流源: 外部真空

流量控制:體積流量由輸送流量內(nèi)部孔板控制。 氣溶膠流速由 3750 型 CPC 控制。

氣溶膠介質(zhì)

建議與空氣一起使用；可與氮氣、氬和氦等惰性氣體安全 使用（技術(shù)參數(shù)適用于空氣）

液體系統(tǒng) 

二甘醇（DEG，≥ 99%，不含）用作工作液。使用水分離 器和可再填充干燥器干燥鞘氣。建議使用內(nèi)部排水泵清除 冷凝水。

通信 

嵌入式觸摸顯示屏，USB-C 型，可將納米增強儀直接連接 到 3750 型 CPC。

所需附件

電氣:100 to 240 VAC, 50/60 Hz, 最小功率 240W。自動恢復(fù)內(nèi)置電源故障

真空:最小壓力 60 kPa (18 in Hg) ( 低于大氣壓力 )

包含:注水和排水瓶、干燥器

物理特征 

尺寸: (H x W x D) 30x28.2x32.5cm(11.8x11x12.6in.), 不包括注水瓶和支架

重量:9.1 kg (20 lbs)

1nm CPC 系統(tǒng) (3757 型納米增強儀和 3750 型 CPC)

粒徑范圍

最小可檢測

粒子 (D50): 1.4 nm ( 電遷移率直徑，幾何直徑 1.1nm)，用氯化鈉粒子驗證

粒子濃度范圍

 0 - 3x105 粒子 /cm3 , 單粒子連續(xù)計數(shù)，實時一致性校正。

粒子濃度精度

<1.65 x 105 粒子/cm3時，為±10% ，3 x 105粒子/cm3時，為±15%

錯誤計數(shù)背景

<0.01 x 105 粒子/cm3,基于12小時平均值

響應(yīng)時間

<4s 95%-濃度顯著變化響應(yīng)

目錄項目

型號         說明

3757-50 1 nm  凝聚核粒子計數(shù)器

3032         真空泵 110V

3032-1       真空泵 230 V/50 Hz

3750-MKIT    CPC 維修工具

3750-WKIT    CPC 吸液芯更換工具

3772200      環(huán)境采樣系統(tǒng)

掃描電遷移率粒徑譜儀

型號：3938

  TSI3938,tsi推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測量精度和測量可重復(fù)性。第三代3938型SMPS采用模塊化、基于組件的設(shè)計，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描（每次掃描小于15秒）和自動組件識別功能。TSI SMPS易于使用，并可以為研究人員提供質(zhì)量數(shù)據(jù)，是研究人員進行納米粒子粒徑分布測量的。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。

應(yīng)用

· 納米技術(shù)研究和材料合成

· 大氣研究和環(huán)境檢測

· 工程納米材料科學(xué)研究

· 過濾器和空氣凈化器測試

· 燃燒和發(fā)動機排放研究

· 室內(nèi)空氣質(zhì)量測量

· 成核/凝結(jié)研究

· 吸入毒理學(xué)研究    

 

包含組件

· 與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器

· 七款凝聚粒子計數(shù)器之一

· Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件  

用于數(shù)據(jù)采集的電腦須單獨購買。

功能：

SMPS 粒徑譜儀由以下組件組成：3082 型靜電分級器、 3086 型 1nm DMA、3757 型納米增強儀、3750 型凝聚核 粒子計數(shù)器

+ 高分辨率粒徑分布；

+ 每 10 倍粒徑 64 個通道

+ 1-50nm 間通道數(shù) >109 個

+ 靈活性的組件設(shè)計

+ 1nm-50nm 寬粒徑范圍

+ 通過和 3081a 型長 DMA 配套使用，能夠測量從 1nm 到 1µm 的 3 個 10 倍粒徑的粒徑分布

+ 針對最小擴散損失和系統(tǒng)集成進行優(yōu)化

+ 使用氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件進行統(tǒng)一的系統(tǒng)操作

+ 精密的粒子測量：適用于多模態(tài)樣品

 備注：美國TSI粒徑譜儀3938，美國TSI掃描電遷移率粒徑譜儀3938，美國tsi3938,代理美國TSI掃描電遷移率粒徑譜儀3938，TSI3938，TSI粒徑譜儀，tsi粒子成像儀。