SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀

SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀 特點(diǎn)：
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性： ±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示zui小值： 1℃

熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù) 40×