產(chǎn)品簡(jiǎn)介 彌補(bǔ)基于實(shí)驗(yàn)室的非破壞性亞微米顯微鏡的差距Xradia410Versa彌補(bǔ)了高性能X射線顯微鏡與功能不強(qiáng)的計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)之間的差距。Xradia410Versa提供具有行業(yè)分辨率,對(duì)比度和原位功能的非破壞性3D成像,使您能夠針對(duì)泛的樣本量進(jìn)行突破性研究。使用這種功能*,經(jīng)濟(jì)高效的“主力"解決方案增強(qiáng)成像工作流程,即使在不同的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中也是如此優(yōu)勢(shì)XradiaVersa架構(gòu)采