產(chǎn)品簡(jiǎn)介 蔡司XradiaContext是一種大視場(chǎng),非破壞性3DX射線微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)。借助*的平臺(tái)和靈活的軟件控制源/探測(cè)器定位,您可以在完整的3D環(huán)境中對(duì)大型,重型(25kg)和高樣本進(jìn)行成像,以及具有高分辨率和細(xì)節(jié)的小樣本。獲取完整的電子元件,大型原材料樣品或生物樣品的3D數(shù)據(jù)。執(zhí)行非破壞性故障分析,以識(shí)別內(nèi)部缺陷,而無(wú)需切割樣品或工件表征和量化材料中的性能定義異質(zhì)性,如孔隙率,裂縫,夾雜物