GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GBT0586-2006濕熱試驗(yàn)箱術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（循環(huán)交變）

GB/T2423.3-2006 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cab 恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Db交變濕熱12h+12h循環(huán)

GB/T2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cb 設(shè)備用恒定濕熱

GB/T2423.2-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法A:低溫

GB/T2423.2-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法B:高溫

GB/T2324.22-2002 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)溫度變化

GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

安全配置：漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)等