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詳細(xì)摘要： BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度數(shù)字電機(jī)實(shí)現(xiàn)了的轉(zhuǎn)速控制精度，通BI-DCP一樣，是具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確度的納米/微米顆粒粒度測...

詳細(xì)摘要： BI-DCP/BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度數(shù)字電機(jī)實(shí)現(xiàn)了的轉(zhuǎn)速控制精度，是具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確度的納米與微米顆粒粒度測量儀器...

詳細(xì)摘要： 自動滴定儀是Zeta電位及粒度分析儀的選件，配合流動型樣品池使用，可自動進(jìn)行酸、堿、鹽離子和表面活性劑滴定并對Zeta電位與粒度進(jìn)行測量，免去人工配制不同的pH...

詳細(xì)摘要： EyeTech Combi是顆粒分析最終解決方案，它集成了*的LOT（激光光阻法）與專業(yè)的圖像處理識別技術(shù)，提供樣品粒度、粒形和濃度數(shù)據(jù)等完整的顆粒表征。的激光...

詳細(xì)摘要： 90Plus PALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀粒度測量采用動態(tài)光散射原理，是一種準(zhǔn)確、快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用全新的...

詳細(xì)摘要： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位...

詳細(xì)摘要： 作為將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入粒度分析的廠家，布魯克海文公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了結(jié)合，突破性...

詳細(xì)摘要： 90Plus亞微米激光粒度分析儀基于動態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。