詳細(xì)介紹
IRcube 傅立葉紅外光譜儀可用于 OEM。布魯克面向中紅外光譜設(shè)備的高性能干涉器,如今可實(shí)現(xiàn)定制化設(shè)計。
IRcube的優(yōu)質(zhì)高品質(zhì)的元件、改進(jìn)更佳的信號平均技術(shù)、更高的性能和緊湊結(jié)構(gòu)較小的占地面積,使OEM能夠應(yīng)對具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。
它的光路準(zhǔn)直、結(jié)構(gòu)緊湊,不易受振動和溫度變化的影響,使其成為耐用的模塊化系統(tǒng)。
該系統(tǒng)以結(jié)構(gòu)緊湊、結(jié)實(shí)耐用的光譜儀為基礎(chǔ),配備了防水機(jī)箱和準(zhǔn)直的光路,適用于惡劣的過程控制環(huán)境,因此,OEM可根據(jù)自己的需求,創(chuàng)建、定制的集成和應(yīng)用。此外,IRcube還可用作UHV腔耦合模塊、反射模塊或氣體分析儀。
IRcube經(jīng)由標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)與計算機(jī)連接,使用TCP/IP協(xié)議和嵌入式HTML服務(wù)器,增強(qiáng)其連接性和移動性。
作為UHV腔耦合模塊, IRcube的平行出射光束可用來耦合外部低溫恒溫器或UHV腔,實(shí)現(xiàn)IRRAS和透射測量。IRcube還可以根據(jù)不同應(yīng)用需求,適配不同聚焦的光路系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)多種反射測量方式,例如金屬或半導(dǎo)體表層厚度的測量(例如晶體厚度、BPSG、鉆石鍍層)、礦物質(zhì)和陶瓷的鑒定等。作為UHV腔耦合模塊, IRcube的平行出射光束可用來耦合外部低溫恒溫器或UHV腔,實(shí)現(xiàn)IRRAS和透射測量。
IRcube還提供ATEX防爆版本,該版本符合以下標(biāo)準(zhǔn)
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