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| 美國(guó)DAKOTA公司CMX系列多功能超聲波測(cè)厚儀,可測(cè)量材料的厚度,穿透涂層測(cè)量材料厚度,也可以測(cè)量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置,以獲得*佳的性價(jià)比。 CMX 除了常規(guī)的超聲波測(cè)厚儀的功能外,增加了B-掃描功能和多種測(cè)量模式,包括: - 脈沖-回波(P-E)模式,測(cè)量材料厚度 - 脈沖-回波涂層(PECT)模式,同時(shí)測(cè)量材料厚度和涂層厚度 - 脈沖-回波溫度補(bǔ)償(PETP)模式,測(cè)量材料厚度 - 回波-回波(E-E)模式,穿過涂層測(cè)量材料厚度 - 回波-回波驗(yàn)證(E-EV)模式,穿過涂層測(cè)量材料厚度 - 測(cè)量涂層(CT)模式,只測(cè)量涂層厚度 CMXDL 在CMX的超聲波測(cè)厚儀基礎(chǔ)上,增加了存儲(chǔ)功能。 CMXDL+ 在CMXDL超聲波測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上,增加了A掃描功能,多種探頭類型(包括雙晶探頭、單晶延遲塊探頭、單晶接觸型探頭、單晶筆形探頭),另有彩色屏幕主機(jī)可選。 詳細(xì)資料 | | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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