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產(chǎn)品簡介

minitest735技術(shù)資料MiniTest735及帶外置探頭結(jié)合了精度高、易于測量

詳細介紹

minitest735技術(shù)資料

MiniTest 735及帶外置探頭結(jié)合了精度高、易于測量。該有線探頭可以很方便的測量難以夠到的地方。該測厚儀有助于對鐵磁基板上的非磁性材料和絕緣涂層進行無損涂層測量。該配置帶有一個外部F5型探頭，其測量范圍為5.0毫米/ 200mils。minitest735技術(shù)資料包括主機技術(shù)參數(shù)和探頭技術(shù)參數(shù)。

ElektroPhysik MiniTest 735 F5代理供應(yīng)：

MiniTest 735符合人體工程學(xué)設(shè)計，其圓形形狀使MiniTest儀器地適合您的手掌。它還具有測量速度設(shè)置選項，可以根據(jù)不斷變化的要求進行調(diào)整，以實現(xiàn)更高的效率和更好的生產(chǎn)率：在短時間內(nèi)以中等精度獲取多個讀數(shù)，或者以更高的精度僅獲取幾個讀數(shù)。它有助于無損測量鐵磁性基材（鋼）上的非磁性涂層（油漆，合成材料，鉻等），以及導(dǎo)電基材（鋁）上的絕緣涂層（清漆，搪瓷，合成材料，陽極氧化鋁等）。，銅，奧氏體不銹鋼）。其預(yù)定義的校準方法可適應(yīng)各種不同的表面條件和精度要求，因此其傳感器可補償不規(guī)則形狀的表面。

適用于MiniTest 735的SIDP®探頭

SIDSP®是涂層厚度傳感器的*技術(shù)。借助這項新技術(shù)，為創(chuàng)新的涂層厚度測量樹立了另一個新的基準。 SIDSP®代表傳感器集成的數(shù)字信號處理–一種在測量的時間和點將信號在傳感器內(nèi)部*處理成數(shù)字形式的技術(shù)。 SIDSP®傳感器是根據(jù)全新的*新生產(chǎn)技術(shù)制造的。

與傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器為傳感器內(nèi)部的傳感器頭創(chuàng)建和控制激勵信號。返回信號直接進行數(shù)字轉(zhuǎn)換并以32位精度進行處理，以提供完整的涂層厚度值。對于這種技術(shù)，使用了現(xiàn)代電信技術(shù)（移動**網(wǎng)絡(luò)）中已知的高度復(fù)雜的數(shù)字信號處理方法，例如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均，隨機分析等。這使用戶可以實現(xiàn)信號質(zhì)量和迄今為止，精度是模擬信號處理所*的。厚度值通過傳感器電纜數(shù)字傳輸?shù)斤@示單元。在涂層厚度測量方面樹立了新的標準，與常用的模擬傳感器相比，該技術(shù)具有決定性的優(yōu)勢和改進。

MiniTest 725測厚儀

MiniTest 735測厚儀的實際應(yīng)用

minitest735技術(shù)資料主機技術(shù)參數(shù)：

兩用測頭	FN探頭自動識別基體材料
據(jù)存儲	10 個批組，多 10,000 個讀數(shù) (MiniTest 725 和 735) 100 個批組，多 100,000 個讀數(shù) (MiniTest 745) 存儲器可根據(jù)需要進行分配
統(tǒng)計評估	讀數(shù)個數(shù), 小值, 大值, 平均值, 標準方差, 變異系數(shù), 單值統(tǒng)計, 組塊統(tǒng)計 (符合規(guī)范 / 自由配置)
校準模式	出廠校準, 零點校準, 2點校準, 3點校準, 粗糙校準方式"rough" 校準程序符合的標準和規(guī)范ISO 標準化組織, SSPC美國防護涂料協(xié)會, “Swedish“瑞典, “Australian“澳大利亞
限值監(jiān)控	輸出視覺和聽覺信號
測量單位	公制 (µm, mm, cm) 和英制 (mils, inch, thou)
測量速度	每分鐘70 個讀數(shù)在單值模式下每秒鐘20 個讀數(shù)在連續(xù)模式下連續(xù)模式用于快速識別厚度變化
溫度	工作溫度：-10 °C~ 60 °C；存儲溫度：-20 °C~ 70 °C
數(shù)據(jù)接口	USB 和藍牙
電源	2 個AA (5號)電池; 可選可充電鎳氫電池, AA/HR6型。電池或可充電電池設(shè)置可選，來適應(yīng)匹配額定電壓。
規(guī)范和標準	DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, ASTM B 244, B 499, D7091, E 376, AS 3894.3, SS 1841 60, SSPC-PA 2

探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表：

測量原理	探頭型號:	類型:	測量范圍:	Uncertainty (of Reading):	Minimum *小測量點:
磁感應(yīng)測頭	F0.5M-0 F0.5M-45° F0.5M-90°	A	0 ... 0.5 mm	± (0.5 µm + 0.75 %)	Ø 3 mm
	F1.5	B / E	0 ... 1.5 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F1.5-90°	C	0 ... 1.5 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F2	B / E	0 ... 2.0 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	F2.6	B / E	0 ... 2.6 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	F5	B / E	0 ... 5.0 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	F15	D	0 ... 15 mm	± (5.0 µm + 0.75 %)	Ø 25 mm
渦流測頭	N0.7	B / E	0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	N0.7-90°	C	0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	N2.5	B / E	0 ... 2.5 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm
	N7	D	0 ... 7.0 mm	± (5.0 µm + 0.75 %)	Ø 20 mm
雙功能測頭	FN1.5	B / E	F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	FN1.5-90°	C	F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm	± (1.0 µm + 0.75 %)	Ø 5 mm
	FN2.6	B / E	F: 0 ... 2.6 mm N: 0 ... 1.0 mm	± (1.0 µm + 0,75 %)	Ø 5 mm
	FN5	B / E	F: 0 ... 5.0 mm N: 0 ... 2.5 mm	± (1.5 µm + 0.75 %)	Ø 10 mm