詳細(xì)介紹
EPK測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| EPK測(cè)厚儀測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
| 度 | ±(1μm 0.75%讀值) | ±(1.5μm 0.75%讀值) | ±(5μm 0.75%讀值) | |||
| 重復(fù)性 | ±(0.5μm 0.5%讀值) | ±(0.8μm 0.5%讀值) | ±(2.5μm 0.5%讀值) | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
| 單值模式下zui大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
SIDSP技術(shù)詳解
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

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