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科研級(jí)微分干涉顯微鏡XJ-51DIC 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)微分干涉金相顯微鏡XJ-51DIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號(hào):XJ-51DIC 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述三目微分干涉金相顯微鏡XJ-55DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號(hào):XJ-55DIC 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
科研級(jí)微分干涉顯微鏡XJ-52DIC 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)微分干涉金相顯微鏡XJ-52DIC適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究
產(chǎn)品型號(hào):XJ-52DIC 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
明暗場(chǎng)金相顯微鏡XJ-58C 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)明暗場(chǎng)正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀(guān)察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-58C 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
三目正置金相顯微鏡XJ-53C-1 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述三目正置金相顯微鏡XJ-53C-1配置了立桿式的機(jī)架和移動(dòng)工作臺(tái),顯微鏡主體可大范圍升降和360旋轉(zhuǎn)
產(chǎn)品型號(hào):XJ-53C-1 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-20 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
便攜式金相顯微鏡XJ-A型 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述產(chǎn)品簡(jiǎn)介:XJ-A型便攜式金相顯微鏡可方便用于現(xiàn)場(chǎng)材料無(wú)法制作試樣時(shí)需鑒別的各種金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)鑒定,可廣泛的應(yīng)用于工廠(chǎng)金相試驗(yàn)室進(jìn)行金屬材料的分析...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-A 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-20 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
便攜式金相顯微鏡XJ-B型 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述產(chǎn)品簡(jiǎn)介:XJ-B型便攜式金相顯微鏡可方便用于現(xiàn)場(chǎng)材料無(wú)法制作試樣時(shí)需鑒別的各種金屬與合金的組織結(jié)構(gòu)鑒定,可廣泛的應(yīng)用于工廠(chǎng)金相試驗(yàn)室進(jìn)行金屬材料的分析...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-B 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-20 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
三目透反射金相顯微鏡XJ-58C 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:研究級(jí)三目透反射金相顯微鏡XJ-58C適合觀(guān)察金相試樣,電子芯片等樣品
產(chǎn)品型號(hào):XJ-58C 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-19 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言 -
現(xiàn)場(chǎng)金相顯微鏡XJ-C 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述XJ-C現(xiàn)場(chǎng)金相顯微鏡,主要用于金屬工件的現(xiàn)場(chǎng)金相檢驗(yàn)與失效分析
產(chǎn)品型號(hào):XJ-C 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-17 參考價(jià): 面議 在線(xiàn)留言
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