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接觸式ATC840桌上型冷熱沖擊機溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類型的芯片施加溫...

接觸式ATC840thermoplate溫度系統(tǒng)溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類...

ATC840接觸式thermoplate溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類型的芯片...

接觸式高低溫沖擊機ATC840溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類型的芯片施加溫度，...

三溫測試臺 ATC840接觸式溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類型的芯片施加溫度，...

高低溫循環(huán)冷熱臺 ATC840接觸式溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對各種功率、尺寸和類型的芯片施加...

HAST高低溫沖擊老化試驗箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱(又名高低溫沖擊試驗箱)是一種用于測試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備，通過不斷變換溫度，檢測產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況，產(chǎn)生的熱效...

HAST高低溫沖擊試驗箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱(又名高低溫沖擊試驗箱)是一種用于測試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備，通過不斷變換溫度，檢測產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況，產(chǎn)生的熱效應 ...

高低溫沖擊試驗箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱(又名高低溫沖擊試驗箱)是一種用于測試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備，通過不斷變換溫度，檢測產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況，產(chǎn)生的熱效應 和冷卻效...

冷熱沖擊試驗箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱(又名高低溫沖擊試驗箱)是一種用于測試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備，通過不斷變換溫度，檢測產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況，產(chǎn)生的熱效應 和冷卻效應...

成都中冷低溫 兩箱式冷熱沖擊試驗箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱(又名高低溫沖擊試驗箱)是一種用于測試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備，通過不斷變換溫度，檢測產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況，產(chǎn)生...

HAST高加速老化測試系統(tǒng)，高加速應力測試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳...

恒溫 溫度控制器 ，根據(jù)工作環(huán)境的溫度變化，在開關(guān)內(nèi)部發(fā)生物理形變，從而產(chǎn)生某些特殊效應，產(chǎn)生導通或者斷開動作的一系列自動控制元件，或者電子原件在不同溫度下，工...

溫度控制器250900300 ，根據(jù)工作環(huán)境的溫度變化，在開關(guān)內(nèi)部發(fā)生物理形變，從而產(chǎn)生某些特殊效應，產(chǎn)生導通或者斷開動作的一系列自動控制元件，或者電子原件在不...

Inficon英福康VGD500真空計顯示器INFICON真空計顯示器VGD500可連接到我們的CDG產(chǎn)品系列以獲得4位顯示。這種小巧的裝置用于顯示真空計的壓力...

桌面型高低溫沖擊熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是針對芯片可靠性測試而研發(fā)的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗設(shè)備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測試系統(tǒng)，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1...

BHAST偏壓加速老化試驗箱，適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)...