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接觸式ATC840桌上型冷熱沖擊機(jī)溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片施加溫...
接觸式ATC840thermoplate溫度系統(tǒng)溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)...
ATC840接觸式thermoplate溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片...
接觸式高低溫沖擊機(jī)ATC840溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片施加溫度,...
三溫測(cè)試臺(tái) ATC840接觸式溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片施加溫度,...
高低溫循環(huán)冷熱臺(tái) ATC840接觸式溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點(diǎn),可以通過(guò)定制來(lái)適應(yīng)不同的芯片 封裝和接口。該系統(tǒng)允許對(duì)各種功率、尺寸和類(lèi)型的芯片施加...
HAST高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱(又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備,通過(guò)不斷變換溫度,檢測(cè)產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況,產(chǎn)生的熱效...
HAST高低溫沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱(又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備,通過(guò)不斷變換溫度,檢測(cè)產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況,產(chǎn)生的熱效應(yīng) ...
高低溫沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱(又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備,通過(guò)不斷變換溫度,檢測(cè)產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況,產(chǎn)生的熱效應(yīng) 和冷卻效...
冷熱沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱(又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備,通過(guò)不斷變換溫度,檢測(cè)產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況,產(chǎn)生的熱效應(yīng) 和冷卻效應(yīng)...
成都中冷低溫 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱系統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱(又名高低溫沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品耐受能力 的設(shè)備,通過(guò)不斷變換溫度,檢測(cè)產(chǎn)品是否出現(xiàn)受損情況,產(chǎn)生...
HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng),高加速應(yīng)力測(cè)試(HAST)結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間,以測(cè)量元件的可靠性,無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳...
恒溫 溫度控制器 ,根據(jù)工作環(huán)境的溫度變化,在開(kāi)關(guān)內(nèi)部發(fā)生物理形變,從而產(chǎn)生某些特殊效應(yīng),產(chǎn)生導(dǎo)通或者斷開(kāi)動(dòng)作的一系列自動(dòng)控制元件,或者電子原件在不同溫度下,工...
溫度控制器250900300 ,根據(jù)工作環(huán)境的溫度變化,在開(kāi)關(guān)內(nèi)部發(fā)生物理形變,從而產(chǎn)生某些特殊效應(yīng),產(chǎn)生導(dǎo)通或者斷開(kāi)動(dòng)作的一系列自動(dòng)控制元件,或者電子原件在不...
Inficon英??礦GD500真空計(jì)顯示器INFICON真空計(jì)顯示器VGD500可連接到我們的CDG產(chǎn)品系列以獲得4位顯示。這種小巧的裝置用于顯示真空計(jì)的壓力...
桌面型高低溫沖擊熱流儀,接觸式高低溫設(shè)備是針對(duì)芯片可靠性測(cè)試而研發(fā)的專(zhuān)用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備(熱流儀、溫...
CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化,是一種可信賴(lài)性的試驗(yàn)設(shè)備,原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀察線路...
Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1...
PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化,評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1...
BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱,適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)...
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