ThermoTST ATC840通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。

接觸式 高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備

特點

有效溫度范圍，-55℃至+200℃

溫度穩(wěn)定性±0.5℃

觸摸屏操作，人機交互界面

支持DUT溫度控制

桌面設(shè)計，低噪音、低震動、低環(huán)境散熱

溫度波動小

低溫環(huán)境測試無冷凝

接觸式 高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備

應(yīng)用

適用于IC特性、測試和失效分析：

ATE, SLT和工作臺

高低溫測試箱/低溫冷卻機代換

OEM集成

測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足美用標(biāo)準(zhǔn)MIL體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足國內(nèi)元件GJB體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足JEDEC測試要求

技術(shù)規(guī)格

更多詳細(xì)參數(shù)，請聯(lián)系我們！