在納米材料分析和研究中，通常是納米級(jí)（1至100nm）的超細(xì)顆粒。這些材料具有納米級(jí)的粒徑，因?yàn)樗鼈兙哂休^小的尺寸效應(yīng)，量子尺寸效應(yīng)，表面效應(yīng)和宏觀量子隧穿效應(yīng)，因此它們?cè)诔Ｒ?guī)材料，催化劑，非線性光學(xué)和磁性材料中未發(fā)現(xiàn)太多特性。因此，納米材料的粒度分析已經(jīng)成為納米材料研究的重要方面。

 

　　今天咱們來聊一聊使用納米激光粒度儀時(shí)遮光比的選取問題：

 

　　遮光比就是在使用該儀器測(cè)試樣品時(shí)，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是在粒度測(cè)試過程中的一個(gè)重要的步驟，遮光比是否合適或者說被測(cè)樣品的濃度是否合適嚴(yán)重關(guān)系到粒度測(cè)量結(jié)果的性和代表性。

 

　　在測(cè)試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍，但是這個(gè)要求非常難以掌握，因此在實(shí)際的粒度測(cè)試中，通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%)，遮光比過大時(shí)，顆粒的濃度過高，容易發(fā)生二次散射，測(cè)量結(jié)果誤差增大;遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測(cè)試結(jié)果的代表性很差，甚至可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果是無效的，因此在測(cè)試過程中，對(duì)遮光比的選取要通過反復(fù)試驗(yàn)，以得到正確的測(cè)量結(jié)果。

 

　　一般來說，對(duì)于比較粗的樣品，遮光比可以選擇的比較高，如20~30%，正常情況可以為10~25%;對(duì)于超細(xì)的樣品，可以適當(dāng)降低樣品的遮光比，但一般不要超過40%，這些都是實(shí)驗(yàn)得到的經(jīng)驗(yàn)數(shù)值，但終還需通過反復(fù)實(shí)驗(yàn)，找到對(duì)應(yīng)樣品測(cè)試時(shí)遮光比的合適數(shù)值。