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X射線熒光光譜儀EDX9000B合金分析儀快速測定硅錳、硅鐵合金中硅錳磷硫含量
發(fā)布時間:2022-5-10X射線熒光光譜儀EDX9000B快速測定硅錳、硅鐵合金中硅錳磷硫含量
EDX9000B型 X-射線熒光能譜合金分析儀是一種高性能的多元素同時分析系統(tǒng)。

元素分析范圍:Na – U, 可滿足多種樣品類型,如固體,液體,塊狀,薄膜等。測量的濃度動態(tài)范圍從ppm – 99%. 可適合多基體,多元素同時分析。 8位濾光片可滿足設置多種分析條件,優(yōu)化分析方法。儀器采用高分辨率SDD檢測器,針對痕量元素具有超高探測靈敏度。優(yōu)化輸出的數(shù)字脈沖處理器DPP分析器,與用戶友好的界面互動,極低的運行和維護費用。
英飛思開發(fā)了用XRF壓片法樣品制備配合EDX9000B光譜儀測定硅錳和硅鐵合金中Si、Mn、P、S的試驗方法,分析其準確度和精密度。提高了經(jīng)濟效益和社會效益,并將分析結(jié)果與國家標準分析結(jié)果進行比對,結(jié)果證明EDX9000B真空型X射線能量色散熒光光譜合金分析儀*生產(chǎn)和質(zhì)量控制需求,符合客戶預期。
硅錳中 Si, P, Mn, S 的 ED-XRF9000B型合金分析儀 分析測試結(jié)果和譜圖如下


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