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?能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000B礦石分析儀在礦物元素成分和品味分析中的應(yīng)用?

能量色散X射線熒光光譜儀EDX9000B可用于礦物樣品中元素含量分析.可測量的元素一般位于元素周期表中11號鈉元素至92號鈾元素.這種分析方法的優(yōu)點是操作簡單,測量速度快.能量色散X射線熒光儀配置的基本參數(shù)法校準(zhǔn)可以在沒有或很少標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下提供定性和半定量分析.能量色散X射線熒光儀在礦物分析領(lǐng)域可廣泛用于礦物勘探,礦區(qū)繪圖,現(xiàn)場開采控制,品位控制和尾礦環(huán)境監(jiān)測.其中手持式能量色散X射線熒光光譜儀可現(xiàn)場分析,節(jié)約樣品送往實驗室分析的時間和費用,臺式能量色散X射線熒光光譜儀在標(biāo)準(zhǔn)樣品充足且有適當(dāng)?shù)臉悠非疤幚頃r可以提供更高的測量精度和準(zhǔn)確性.

XRF 的工作原理基于玻爾理論，核外電子吸收能量發(fā)生電離而使原子呈激發(fā)態(tài)，此時高能級上的電子會發(fā)生躍遷使原子重新回到基態(tài)，同時釋放相應(yīng)的能量。激發(fā)光源（X 射線管）形成一次 X 射線，當(dāng)一次X 射線的能量大于受激的原子的內(nèi)層電子結(jié)合能時，會使內(nèi)層（K 層）電子吸收相應(yīng)的能量而電離（俄歇電子），從而形成電子空穴，為了使原子重新回到穩(wěn)定態(tài)，中、外層電子必須躍遷至內(nèi)層補(bǔ)充空穴，在躍遷的過程中釋放相應(yīng)的能量形成熒光 X 射線。根據(jù)各個元素放射的 X 射線熒光光譜的不同，可以對元素進(jìn)行定性分析，區(qū)分元素的種類。測出同種元素不同含量樣品的熒光 X 射線的強(qiáng)度，采樣標(biāo)準(zhǔn)曲線對光強(qiáng)和元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)進(jìn)行擬合，從而利用標(biāo)準(zhǔn)曲線對其他樣品進(jìn)行定量分析。

XRF礦石分析儀能量色散的方法，利用半導(dǎo)體探測器將不同能量的 X 射線分開并檢測，這樣可以同時檢測樣品中幾乎所有的元素，目前光譜儀XRF的有 Si-PIN(硅 PIN)和 SDD（硅漂移）探測器。工作時，首先由儀器產(chǎn)生高壓電流，激發(fā) X 射線管形成一次 X 射線打到樣品表面，樣品受激發(fā)形成熒光 X 射線，被探測器檢測到信號并通過計算機(jī)形成光譜圖。

大部分便攜式 XRF 分析儀都帶有不同的分析模式，以滿足不同行業(yè)和不同分析要求。地質(zhì)樣品可以制成粉末，也可以是塊狀巖石樣和坑道、鉆孔巖石樣，樣品分析可以做到原位無損測試。

樣品的均勻程度與分析數(shù)據(jù)的精度成正比，一般粉末樣品測試的結(jié)果可靠性比塊狀巖石樣高。在野外工作中，考慮到數(shù)據(jù)采集的高效性，多直接對巖石樣品進(jìn)行分析。

XRF礦石分析儀能量色散EDX9000B礦樣測試譜圖如下：