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使用礦石分析儀EDX9000B光譜儀測(cè)定金砂中的金和鉑含量

運(yùn)用 X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX9000B分析金砂中的金和鉑含量是靈敏、快捷的一種分析方法。樣品經(jīng)充分研磨和干燥后, 以硼酸鹽為熔劑, 在一定溫度下熔融制片。再利用礦石分析儀EDX9000B快速測(cè)定其中金和鉑的含量成分。

目前金的分析方法主要有碘量法、光度法、原子吸收法、ICP- AES法和滴定法等

。這些方法大多需先用王水或強(qiáng)酸溶解, 缺點(diǎn)是如果溶解不*或分離與富集不*, 難以達(dá)到無(wú)損試樣的分析要求。密度法是測(cè)定已知雜質(zhì)含量的黃金成色。雖然它是無(wú)損檢測(cè), 但有一定的技術(shù)難度, 所以用得較少。X射線(xiàn)熒光光譜分析法 ( XRF)用于物質(zhì)成分分析, 檢出限可達(dá)ppm級(jí)別。

該方法強(qiáng)度測(cè)量的再現(xiàn)性好, 便于無(wú)損分析, 分析速度快, 應(yīng)用范圍廣。

EDX9000B礦石分析儀的基本XRF原理

來(lái)自 X射線(xiàn)管具有足夠能量的初級(jí) X 射線(xiàn)與試樣中的原子發(fā)生碰撞, 并從該原子中逐出一個(gè)內(nèi)

層電子, 此殼層就形成一個(gè)空穴, 隨后由較外層的一個(gè)電子躍遷來(lái)填充此空穴; 同時(shí), 發(fā)射出二次 X 射線(xiàn)光電子, 即熒光 X 射線(xiàn)。光子的能量等于完成兩個(gè)殼層之間躍遷的能量差, 即該原子的特征 X 射線(xiàn)。根據(jù)探測(cè)該元素特征 X射線(xiàn)的存在與否, 可以進(jìn)行定性分析, 根據(jù)其強(qiáng)度的大小可作定量分析。

樣品制備

研磨

將通過(guò) 2 mm 篩的金黃色黃砂粗樣品倒入研缽內(nèi), 充分研碎 (粒徑 < 75 Lm), 放入恒溫干燥箱中在105 e 下干燥 1~ 5 h, 取出, 自然冷卻, 稱(chēng)取少量樣品熔融制片。

熔融制片

準(zhǔn)確稱(chēng)取研磨后試樣 1. 000 g、熔劑 5. 000 g, 置于鉑金坩堝內(nèi); 將鉑金坩堝放入高溫電阻爐中, 設(shè)定熔樣溫度在 1 000 e 左右, 前靜止時(shí)間約 2 m in, 爐體擺動(dòng)約 10 m in, 后靜止約 3 m in; 待樣品熔化*后, 取出坩堝, 于空氣中冷卻; 待樣片冷卻后, 將樣片逐個(gè)放入 X 射線(xiàn)熒光光譜儀中測(cè)強(qiáng)度。

采用 X 射線(xiàn)熒光分析儀EDX9000B測(cè)定金砂中金和鉑的含量是一種比較快速而又全面的分析方法。對(duì)粗樣品充分研磨, 并且干燥時(shí)間在 4 h以上, 然后以四硼酸鋰為熔劑, 熔樣制片溫度在 1 100 e 時(shí), 測(cè)得金和鉑含量值。