WFJ-10MR顯微鏡為無限遠光學系統(tǒng)，長工作距離平場復(fù)消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺，精確的調(diào)焦機構(gòu)。采用LED同軸光源和LED透射光源照明。偏光系統(tǒng)檢偏鏡可調(diào)轉(zhuǎn)動100度便于偏光正交觀察。DIC棱鏡插板機構(gòu)采用可調(diào)節(jié)的方式可得到的微分干涉效果。大視野單目觀察，減少很多中間環(huán)節(jié)，使成像更清晰效果更好。配置高清模擬攝像機能快速捕捉高質(zhì)量的清晰圖像。

WFJ-10MR顯微鏡穩(wěn)定可靠，操作方便，成像清晰。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子工業(yè)。對晶體、集成電路的檢驗和科學研究。可配置模擬攝像頭對所觀察的樣品進行拍照、儲存、測量、分析。

觀察方式：

1． 明場觀察：使用亮度可調(diào)的同軸照明，對晶體、集成電路的檢驗、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測和品質(zhì)控制。

2． 透射觀察：采用亮度可調(diào)的透射照明，可觀察透明樣品，尤其對液晶顯示屏的檢測效果更好，能清楚的看到發(fā)光屏的三色模塊，因此能檢測顯示屏的好壞，可判斷其質(zhì)量。

3． 偏光觀察：系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機構(gòu)，起偏鏡固定在照明系統(tǒng)；檢偏鏡裝置在成像系統(tǒng)、轉(zhuǎn)動100度可調(diào)，便于正交觀察。主要對金相樣品進行正交偏振光觀察，還可應(yīng)用于礦物、化學等領(lǐng)域。

4． DIC觀察--微分干涉觀察：在明場、偏光正交的系統(tǒng)里再插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡）。（DIC）作為一種前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成之間的相對層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細節(jié)或缺陷，可進行彩色金相攝影等優(yōu)點。但在目前的金相檢驗工作中，（DIC）法還利用得很少。 特別是對液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測效果更好，能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。使用DIC技術(shù)，可以使物體表面微小的高低差展現(xiàn)出清晰，輪廓突出，帶立體感的浮雕成像，極大的提高圖像的對比度。

WFJ-10MR規(guī)格配置：

1. 無限遠光學系統(tǒng)：F=200mm

2. 平場無限遠95mm超長工作距離APO復(fù)消色差物鏡

5X、10X、20X、50X

3. 放大位數(shù)：50X、100X、200X、500X

4. 長工作距離：5~45mm

5. 觀察方式：明場、偏光、微分干涉

6. 調(diào)焦范圍：60mm

7. 工作臺：260X220mm、玻璃：170X150mm

8. 移動范圍：X：±75mm、Y：±75mm

9. 照明系統(tǒng)：垂直LED照明、透射LED照明.

10. 成像裝置：高清HDMI數(shù)字相機或高清HDMI數(shù)字測量工業(yè)相機

平場無限遠95mm超長工作距離APO復(fù)消色差物鏡介紹

高清HDMI數(shù)字測量工業(yè)相機簡介

主要參數(shù)

1. 采用FPGA+ARM架構(gòu)的嵌入式系統(tǒng)。運行LINUX3.10操作系統(tǒng)。

2. 雙核Cortex-A9處理器，主頻速度為1Ghz和高達1GbDDR3內(nèi)存。

3. 采用1/2英寸背光式CMOS Sensor。

4. 高清分辨率為1920×1080@60fps

5. 兩個USB接口，可連接無線鼠標或者鍵盤。

6. 靈活的標定方式。mm、um、miI可任意選擇，成像/測量*取代PC端，

7. 的智能取點功能限度保證測量的一致性。

8. 測量圖像和數(shù)據(jù)可保存。

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