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紫外光度計(jì)雜散光與分析測(cè)試誤差的關(guān)系
發(fā)布時(shí)間:2022-4-30雜散光對(duì)紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試誤差的影響可分成兩種類(lèi)型。種是雜散光的波長(zhǎng)與測(cè)試波長(zhǎng)相同;它是由于測(cè)試波長(zhǎng)因?yàn)槟承┰蚨x正常光路,在不通過(guò)試樣的情況下,直接照射到光電轉(zhuǎn)換器上。引起這種雜散光的原因,大多是由于光學(xué)元件、機(jī)械零件的反射和漫反射所引起。這種雜散光可以通過(guò)一個(gè)對(duì)測(cè)試波長(zhǎng)不透明的樣品來(lái)檢查。當(dāng)發(fā)現(xiàn)放在比色皿中的不透明樣品的透射比不為零時(shí),說(shuō)明儀器中有這種雜散光存在。但必須注意,當(dāng)儀器存在零點(diǎn)誤差時(shí),有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上涂上白色,則可增加樣品本身反射令甲果,可以提高測(cè)量靈敏度。

雜散光對(duì)紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)分析測(cè)試誤差影響的第二種類(lèi)型,是指測(cè)試波長(zhǎng)以外的、偏離正常光路而到達(dá)光電轉(zhuǎn)換器的光線。它通常是由光學(xué)系統(tǒng)的某些缺陷所引起的。如光學(xué)元件的表面被擦傷、儀器的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)不好、機(jī)械零部件加工不良,使光路位置錯(cuò)移等。
通常情況下,我們所講的雜散光,是指包括上述兩種雜散光在內(nèi)的雜散光。
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