技術文章
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)
發(fā)布時間:2022-4-29TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng),采用智能光學跟蹤測量技術,配備高品質(zhì)光學設備,無需貼點即可完成超高精度動態(tài)三維測量,可應用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個方面。
基于不同的掃描場景需求,TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍色激光超快掃描,高效靈活;7束平行藍色激光精細掃描,細節(jié);單束藍色激光掃描,迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。
TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測量光筆T-Probe,可精準獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復雜處的高精密點云數(shù)據(jù)。還可以提供開發(fā)接口,與機器人協(xié)同工作,實現(xiàn)智能在線批量自動化三維檢測。
無需貼點
基于反光標記點跟蹤技術,TrackScan掃描無需貼點,大大提高了工作效率
支持接觸式測量
T-Probe靈活性,測量范圍廣,單點重復性0.030mm,用于接觸測量基準孔、隱藏點、特征等關鍵部位
00001.
雙色激光
紅光掃描模式高效靈活,藍光掃描模式0.020mm超高分辨率,輕松獲取物體細節(jié)
復合定位
支持光學跟蹤和標記點跟蹤兩種模式,根據(jù)現(xiàn)場情況靈活切換
制藥網(wǎng)