成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： zonglen接觸式高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 桌面式高低溫測(cè)試儀ATC840，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫...
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...
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詳細(xì)摘要： HAST老化測(cè)試儀Burn-in Oven，HAST測(cè)試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或...
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詳細(xì)摘要： Burn-in Chamber測(cè)試機(jī)HAST試驗(yàn)箱，HAST測(cè)試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試高加速老化測(cè)試機(jī)，Burn-in Chamber測(cè)試機(jī)HAST試驗(yàn)箱，HAST測(cè)試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in system，HAST...
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)測(cè)試箱Burn-in Oven，HAST測(cè)試機(jī)高加速壽命試驗(yàn)箱Burn-in system，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品...
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的...
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詳細(xì)摘要： BHAST測(cè)試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...
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詳細(xì)摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、高...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微...
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詳細(xì)摘要： HAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試系統(tǒng)，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓...
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詳細(xì)摘要： BHAST高加速老化測(cè)試箱，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在...
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試的失效機(jī)理 模擬老化壽命加速，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： BiasHAST高加速壽命偏壓MOSFET-HAST測(cè)試，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...
產(chǎn)品型號(hào)：HAST-400所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 微波器件高加速壽命 偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)。是一種用于評(píng)估微波器件在條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實(shí)際使用中可能遇到的高溫、...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2026-03-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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