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上海山漢光電科技有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：81條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：廖澤民（經(jīng)理）

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公司動態(tài)

奧林巴斯MX63 / MX63L顯微鏡在半導(dǎo)體與平板顯示器檢測的應(yīng)用

發(fā)布時間：2025-8-18

詳詢

讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢

MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)經(jīng)過優(yōu)化，適用于大尺寸300 mm的晶圓、平板顯示器、電路板以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測。其采用的模塊化設(shè)計(jì)使您能夠選擇需要的組件，獲得根據(jù)應(yīng)用定制的系統(tǒng)。

這兩款符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)且人性化的顯微鏡有助于在提高工作效率的同時，保持檢測員的工作舒適性。與PRECiV圖像分析軟件結(jié)合使用時，可以簡化從觀察到報告創(chuàng)建的整個工作流程。

我們來看看MX63和MX63L顯微鏡在大樣品上檢測的應(yīng)用吧

的分析工具

MX63系列的各種觀察功能可生成清晰銳利的圖像，讓用戶能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢測。全新照明技術(shù)和PRECiV圖像分析軟件的圖像采集選項(xiàng)為用戶評估樣品和記錄結(jié)果提供了更多選擇。

從不可見到可見：MIX觀察和圖像采集

MIX觀察技術(shù)通過將暗場與明場、熒光或偏振光等其他觀察方法相結(jié)合，生成的觀察圖像。MIX觀察技術(shù)使用戶能夠查看使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的缺陷。暗場觀察所用的環(huán)形LED照明器具有在指定時間僅使用一個象限的定向暗場功能。該功能可減少樣品光暈，對于樣品表面紋理的可視化非常有用。

半導(dǎo)體晶圓上的結(jié)構(gòu)

半導(dǎo)體晶圓上的結(jié)構(gòu) — 明場

半導(dǎo)體晶圓上的結(jié)構(gòu) — 暗場

半導(dǎo)體晶圓上的結(jié)構(gòu) — MIX

集成電路圖形不夠清晰。

晶圓顏色不可見。

晶圓顏色和集成電路圖形均清晰可辨。

半導(dǎo)體晶圓上的光刻膠殘留

半導(dǎo)體晶圓上的光刻膠殘留 — 熒光

半導(dǎo)體晶圓上的光刻膠殘留 — 暗場

半導(dǎo)體晶圓上的光刻膠殘留 — MIX

樣品本身不可見。

殘留物不夠清晰。

集成電路圖形和殘留物均清晰可辨。

聚光鏡

聚光鏡 — 暗場

聚光鏡 — 合成圖像

聚光鏡 — MIX

表面反光。

來自不同角度定向暗場的多幅圖像。

通過將無光暈的清晰圖像拼接在一起，合成一張清晰的樣品圖像。

輕松生成全景圖像：即時MIA

使用多圖像拼接（MIA）功能時，用戶只需轉(zhuǎn)動手動載物臺上的KY旋鈕，即可快速輕松完成圖像拼接 — 電動載物臺無需進(jìn)行該操作。PRECiV軟件采用模式識別生成全景圖像，讓用戶獲得更寬的視場。

輕松生成全景圖像：即時MIA

硬幣的即時MIA圖像

生成全聚焦圖像：EFI

PRECiV的景深擴(kuò)展成像（EFI）功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像，并將其合成一幅全聚焦圖像。EFI可配合手動或電動Z軸聚焦裝置使用，以生成高度圖像，輕松實(shí)現(xiàn)對結(jié)構(gòu)的可視化觀察。在PRECiV Desktop離線時，也可以生成EFI圖像。

生成全聚焦圖像：EFI

集成電路芯片上的凸塊

利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍（HDR）可調(diào)整圖像內(nèi)的亮度差異，從而減少眩光。HDR改善了數(shù)字圖像的視覺品質(zhì)，有助于生成具有專業(yè)級外觀的報告。

利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域01

利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域02

部分區(qū)域存在眩光。

使用HDR可清晰呈現(xiàn)暗光區(qū)域和明亮區(qū)域。

TFT陣列因彩色濾光片的亮度而漆黑一片。

TFT陣列利用HDR獲得呈現(xiàn)。

從基本測量到高級分析

測量對于質(zhì)量、工藝控制和檢測至關(guān)重要。鑒于這一點(diǎn)，即便是入門級PRECiV軟件包也融入了交互式測量功能的全部菜單，并且所有測量結(jié)果都與圖像文件一起保存以便存檔。此外，PRECiV材料解決方案還為復(fù)雜圖像分析提供面向工作流程的直觀界面。只需單擊一下按鈕，即可快速精準(zhǔn)執(zhí)行圖像分析任務(wù)。由于大幅縮減了重復(fù)任務(wù)的處理時間，操作員可以專注于手頭的檢測工作。

從基本測量到高級分析01

基本測量（印刷電路板上的圖形）

從基本測量到高級分析02

分散能力解決方案（PCB通孔的橫截面）

從基本測量到高級分析03

自動測量解決方案（晶圓結(jié)構(gòu)）

> 了解有關(guān)PRECiV軟件的更多信息

高效的報告創(chuàng)建

與圖像采集和測量相比，創(chuàng)建報告通常需要花費(fèi)更長的時間。PRECiV軟件提供了直觀的報告創(chuàng)建功能，可以根據(jù)預(yù)定義的模板多次生成智能、復(fù)雜的報告。編輯操作非常簡單，報告可導(dǎo)出為Microsoft Word或PowerPoint文件。此外，PRECiV軟件的報告功能可對采集的圖像進(jìn)行數(shù)字變焦和倍率放大。報告文件大小適中，更便于通過電子郵件進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。

高效的報告創(chuàng)建

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支持潔凈室合規(guī)性的設(shè)計(jì)

Mx63系列專為潔凈室工作而設(shè)計(jì)，其配備的功能有助于大幅降低樣品污染或受損風(fēng)險。該系統(tǒng)采用人體工學(xué)設(shè)計(jì)，即使長時間使用也有助于保持用戶的舒適性。MX63系列符合國際規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)要求，包括SEMI S2/S8、CE和UL。

選配晶圓搬送機(jī) — AL120系統(tǒng)*

選配的晶圓搬送機(jī)可安裝在MX63系列上，實(shí)現(xiàn)無需使用鑷子或工具即可安全地將硅片及化合物半導(dǎo)體晶圓從片盒轉(zhuǎn)移到顯微鏡載物臺上。的性能和可靠性可實(shí)現(xiàn)安全高效的前后宏觀檢測，同時搬送機(jī)還可幫助提高實(shí)驗(yàn)室工作效率。

選配晶圓搬送機(jī) — AL120系統(tǒng)

MX63與AL120晶圓搬送機(jī)（200 mm版本）結(jié)合使用

* AL120未在歐洲、中東和非洲地區(qū)上市銷售。

快速、潔凈的檢測

MX63系列可實(shí)現(xiàn)無污染的晶圓檢測。所有電動組件均安裝在防護(hù)結(jié)構(gòu)殼內(nèi)，顯微鏡鏡架、鏡筒、呼吸防護(hù)罩及其他部件均采用防靜電處理。電動物鏡轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)速比手動物鏡轉(zhuǎn)換器更快更安全，縮短檢測間隔時間的同時，讓操作人員的手始終保持在晶圓下方，避免了潛在的污染。

快速、潔凈的檢測01

防靜電呼吸防護(hù)罩

快速、潔凈的檢測02

電動物鏡轉(zhuǎn)換器

實(shí)現(xiàn)高效觀察的系統(tǒng)設(shè)計(jì)

利用內(nèi)置離合和XY旋鈕，XY載物臺能夠?qū)崿F(xiàn)對載物臺移動的粗調(diào)和微調(diào)。即便針對300 mm晶圓這樣的大尺寸樣品，載物臺也可幫助實(shí)現(xiàn)高效的觀察。
可調(diào)傾角觀察筒的調(diào)節(jié)范圍可讓操作人員以舒適的姿態(tài)坐在顯微鏡前工作。

實(shí)現(xiàn)高效觀察的系統(tǒng)設(shè)計(jì)01