快速溫度老化測試箱是模擬氣溫變化試驗的設(shè)備，現(xiàn)實環(huán)境中的氣溫變化分日變化和年變化。日變化，高氣溫是午后2時左右，低氣溫是日出前后。年變化，北半球陸地上7月份熱1月冷，海洋上8月份熱2月份冷；南半球與北半球相反。還有一種就是人工變化，就是因為人為導致一些設(shè)備在搬移或者擺放在不同的環(huán)境中面臨不同的氣溫變化，為了能提前預知產(chǎn)品的耐變性，所以廣大需求者需要購買快速溫變試驗箱回去做評估或者預測試驗。

快速溫度老化測試箱適用于通訊、光電、航空航天等產(chǎn)品試驗用，還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產(chǎn)品、材料、電子產(chǎn)品、各種電子電器元氣件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗其的各項性能指標是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min（可選擇線性或非線性變化）。

符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件。